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XAD-200多功能全自動 XAD-200全自動鍍層測厚儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

促銷時間：

特價說明：

促銷詳細(xì)：

2020年01月08日至 2020年02月08日

特價促銷

模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

XAD-200是一款上照式全元素光譜分析儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)RoHS檢測及多元素成分分析，的算法及解譜技術(shù)解決了諸多業(yè)界難題

XAD-200是一款上照式全元素光譜分析儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)RoHS檢測及多元素成分分析，的算法及解譜技術(shù)解決了諸多業(yè)界難題。

被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

微小樣品檢測：最小測量面積0.008mm²
變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-90mm
自主研發(fā)的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂鍍層檢測，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測量
的解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限
高性能探測器：SDD硅漂移窗口面積20/50mm²探測器
X射線裝置：微焦加強型射線管搭配聚焦裝置
上照式設(shè)計：實現(xiàn)對超大樣品或者密集點位進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測量
可編程自動位移：選配自動平臺，X210*Y230*Z145mm行程內(nèi)無人值守自動測量
多準(zhǔn)直器自動切換