新型X熒光貴金屬檢測儀EDX 3000 PLUS在測量金、銀、鉑、鈀等貴金屬含量上功能獨(dú)到。采用25mm2大面積鍍窗探測器，可準(zhǔn)確無誤地分析出黃金，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量，測試結(jié)果符合國標(biāo)GB/T 18043要求。

黃金貴重,儀器貴精。EDX3000 PLUS最閃耀的亮點(diǎn)在于超高精確度、超高分辨率、超清晰的攝像頭、一鍵式智能操作，一切讓貴金屬檢測如此簡單!

超高分辨率，

采用好的SDD硅漂移探測器，分辨率為144±5ev，而常規(guī)的Si-PIN探測器，分辨率為160±5eV，能更好的檢測鉑金中依和金的含量。

超高精確度，性能

使用25mm'大面積鍍窗探測器，大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數(shù)字多道分析器技術(shù)，提高分析速度，總體提高系統(tǒng)處理能力，計數(shù)率可達(dá)8萬，比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍，精度提高了2-4倍。

超清晰攝像頭，精準(zhǔn)定位

采用新型工業(yè)級相機(jī),樣品圖像更加清晰，輕松實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)定位。

小準(zhǔn)直器，實(shí)現(xiàn)精小部位測試

提供多種準(zhǔn)直器，直徑最小達(dá)0.2mm，可輕松實(shí)現(xiàn)精小部位的精確測試，同時可根據(jù)測試需求電動切換準(zhǔn)直器，使測量更加輕松更加準(zhǔn)確。

一鍵式智能操作，省去選曲線煩惱

Fp法的完整使用，只需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線，操作一步到位。

應(yīng)用領(lǐng)域

金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

貴金屬主要指金、銀和鉑族金屬元素（釘、銠、鈀、錢、依、鉑)。貴金屬純度檢測一般依據(jù)兩項國家標(biāo)準(zhǔn)來進(jìn)行，即GB-1887《首飾貴金屬純度的規(guī)定及命名方法》和GB/T-18043《貴金屬首飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》。

ED×3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

檢測鉑金中5%依的含量譜圖

技術(shù)參數(shù)

元素分析范圍: 硫（S)～鈾（U)

分析檢出限可達(dá)ppm級

分析含量: 一般為ppm~ 99.99%

任意多個可選擇的分析和識別模型

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

多變量非線性回歸程序

分析精度: 可達(dá)0.02%（含量96%以上)

溫度適應(yīng)范圍: 15℃~30℃

電源: 交流220V±5V，建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

能量分辨率: 144±5eV

樣品腔尺寸:460mm × 325mm × 90mm

儀器尺寸: 550mm × 420mm × 330mm

儀器重量: 45kg

儀器配置

移動樣品平臺

信噪比增強(qiáng)器

SDD探測器

數(shù)字多道分析系統(tǒng)

高低壓電源

大功率X光管

計算機(jī)及噴墨打印機(jī)