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- 公司名稱 北京費(fèi)恩科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/2/20 17:48:15
- 訪問次數(shù) 43
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JIMS測試系統(tǒng)作為JT測試系統(tǒng)的特殊版本,適用于測試光學(xué)口徑超過1000mm的光電系統(tǒng)
JIMS測試系統(tǒng)作為JT測試系統(tǒng)的特殊版本,適用于測試光學(xué)口徑超過1000mm的光電系統(tǒng)。是一套對于水平方向布局的光電系統(tǒng)測試?yán)硐氲慕鉀Q方案。由于CEB模塊產(chǎn)生的內(nèi)部對準(zhǔn)誤差較小, JIMS測試系統(tǒng)的測試精度(0.2mrad)會比JT測試系統(tǒng)(低于0.1mrad)略差。JIMS可以看作JT400系統(tǒng)帶有CEB平行光管折鏡的附加模塊,可以在某方向(通常是水平方向)將平行光管孔徑增加到1000毫米。對于成像/激光傳感器位于大型水平平臺上的超大型地球觀測監(jiān)視系統(tǒng),JIMS是一個理想且經(jīng)濟(jì)的軸對準(zhǔn)測試解決方案。
表1 基于距離的JIMS系統(tǒng)型號
產(chǎn)品型號 | 被測光電系統(tǒng)兩傳感器中心距離 |
JIMS600 | 600mm |
JIMS700 | 700mm |
JIMS800 | 800mm |
JIMS900 | 900mm |
JIMS1000 | 1000mm |
表2 JIMS測試系統(tǒng)版本
編碼 | 計(jì)算機(jī)化控制/軸對準(zhǔn)/測試功能 | 模塊 |
X1 | 非計(jì)算機(jī)化測試系統(tǒng) | CJT400平行光管,VIR-A光源,CVIR-A控制器,USAF1951靶標(biāo),IR-USAF1951靶標(biāo),多圖形靶標(biāo),CEB擴(kuò)展器 |
X2 | 非計(jì)算機(jī)化測試系統(tǒng) | CJT400平行光管,VIR-A光源,CVIR-A控制器,USAF1951靶標(biāo),IR-USAF1951靶標(biāo),多圖形靶標(biāo),一組MON卡,一組TEG卡,一組TEP卡,一組OA衰減器,AH1適配器,CEB擴(kuò)展器 |
X3 | X2+多脈沖激光測距機(jī)與激光指示器可以被校準(zhǔn),增加了ABS卡,LIC卡以及兩個ILU卡。 | CJT400平行光管,VIR-A光源,CVIR-A控制器,USAF1951靶標(biāo),IR-USAF1951靶標(biāo),多圖形靶標(biāo),一組MON卡,一組TEG卡,一組TEP卡,一組OA衰減器,AH1適配器,ABS卡,LIC卡以及兩套ILU卡,CEB擴(kuò)展器 |
Y1 | 計(jì)算機(jī)化測試系統(tǒng) | CJT400平行光管,VIR-A光源,CVIR-A控制器,USAF1951靶標(biāo),IR-USAF1951靶標(biāo),多圖形靶標(biāo),一組MON卡,一組TEG卡,一組TEP卡,一組OA衰減器,AH1適配器,圖像采集卡,計(jì)算機(jī),BOR軟件,CEB擴(kuò)展器 |
Y2 | Y1+多脈沖激光測距機(jī)與激光指示器軸對準(zhǔn) | CJT400平行光管,VIR-A光源,CVIR-A控制器,USAF1951靶標(biāo),IR-USAF1951靶標(biāo),多圖形靶標(biāo),一組MON卡,一組TEG卡,一組TEP卡,一組OA衰減器,AH1適配器,圖像采集卡,計(jì)算機(jī),BOR軟件,ABS卡,LIC卡以及兩套ILU卡,CEB擴(kuò)展器 |
Y3 | Y2+ JT系統(tǒng)的光軸可以垂直于被測系統(tǒng)所在的平臺參考機(jī)械平面 | Y2+更新了自動準(zhǔn)直CJT平行光管、及BRL相機(jī) |
Y4 | Y2+精確測量被測激光測距機(jī)的發(fā)散角 | CJT平行光管,VIR-A光源,CVIR-A控制器,USAF1951靶標(biāo),IR-USAF1951靶標(biāo),多圖形靶標(biāo),一組MON卡,一組TEG卡,一組TEP卡,一組OA衰減器,AH1適配器,圖像采集卡,計(jì)算機(jī),BOR軟件,ABS卡,LIC卡以及兩套ILU卡,BRL相機(jī),SR10相機(jī),CEB擴(kuò)展器 |
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