zeta電位·粒徑·分子量測量系統(tǒng)大塚ELSZ-2000可測量低濃度溶液～高濃度溶液的ZETA電位、粒徑及分子量

zeta電位·粒徑·分子量測量系統(tǒng)

大塚ELSZ-2000可測量低濃度溶液～高濃度溶液的ZETA電位、粒徑及分子量。
粒徑測量范圍（0.6nm～10μm），濃度范圍（0.00001%～40%）。實測電氣滲透流，高精度的ZETA電位測量，最小容量是130μL～的一次性樣品池。另外在0～90℃的大的溫度范圍內(nèi)，測量自動溫度的梯度空間，分析變性、相轉(zhuǎn)移溫度。

產(chǎn)品特點：

使用了型高感度APD，感度提升及縮短測量時間
通過測量自動溫度梯度空間，可分析出變性、相轉(zhuǎn)移溫度
可測量0～90℃大范圍內(nèi)的溫度
追加了大范圍的分子量測量及解析功能
懸濁類高濃度樣品的粒徑、ZETA電位的測量
實測cell內(nèi)的電氣滲透流，解析plot，提供高精度的ZETA 電位測量結(jié)果
高鹽濃度溶液的ZETA電位測量
小面積樣品的平板ZETA電位測量

用途：

適用于界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、藥學、醫(yī)學領域中，除了微粒子外，膜及平板狀樣品的表面科學的基礎研究、應用研究。

新功能性材料領域

燃料電池相關（碳納米軟管、富勒烯、功能性膜、觸媒、納米金屬）
生物納米相關（納米膠囊、人造分子、DDS、生物納米粒子）、納米氣泡等

陶瓷、色材工業(yè)領域

陶瓷（二氧化硅、氧化鋁、氧化鈦等）
無極膠體溶液的表面改質(zhì)、分散、凝集控制
顏料（炭黑、有機顏料）的分散、凝集控制
懸濁狀樣品

半導體領域

查明附著在硅體晶圓的異物的結(jié)構
研磨剤或添加剤和晶圓表面的相互作用的研究
CMP懸濁液

高分子、化學工業(yè)領域

Emulsion（塗料、膠水）的分散、凝集控制、乳膠的表面改質(zhì)（醫(yī)藥 用、工業(yè) 用）
高分子電解質(zhì)（聚乙烯磺酸鹽、聚碳酸等）功能性的研究、功能性納米粒子
紙漿的制紙工程控制及紙漿添加材料的研究

醫(yī)藥 品、食品工業(yè) 領域

Emulsion（食品、香料、醫(yī)療、化妝品）的分散、凝集控制、蛋白質(zhì)的功能性
脂質(zhì)體、囊泡的分散、凝集控制、界面活性剤（膠粒）的功能性

設備參數(shù)：

ELSZ-2000Z測量原理： 雷射都卜勒法（Laser Doppler）
光源： 高功率、高穩(wěn)定性半導體鐳射
感光元件: 高感度APD
樣品容器: 標準樣品容器、微量(130μl~)可拋式樣品容器或高濃度樣品容器
溫度范圍: 0 ~ 90℃ （具備梯度功能）
電源規(guī)格: 100V ± 10% 250VA，50 / 60 Hz
尺寸: 380（W） × 600（D） × 210（H）mm
重量: 約22kg