當前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 物性測試儀器及設(shè)備>表界面物性測試>孔徑分析儀/隙度分析儀> SGW X-4 SGW X-4A SGW?X-4B顯微熔點儀
返回產(chǎn)品中心>SGW X-4 SGW X-4A SGW?X-4B顯微熔點儀
參考價 | 面議 |
- 公司名稱 長沙市天恒科學儀器設(shè)備有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 長沙市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/1/31 19:37:50
- 訪問次數(shù) 118
當前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 物性測試儀器及設(shè)備>表界面物性測試>孔徑分析儀/隙度分析儀> SGW X-4 SGW X-4A SGW?X-4B顯微熔點儀
返回產(chǎn)品中心>參考價 | 面議 |
測定物質(zhì)的熔點。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。
測定物質(zhì)的熔點。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。
SGW®X-4 | SGW®X-4A | SGW®X-4B | |
熔點測量范圍 | 室溫至320℃ | 室溫至320℃ | 室溫至320℃ |
測量重復性 | ±1℃ (在<200℃ 時);±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時) | ±1℃ (在<200℃ 時);±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時) | ±1℃ (在<200℃ 時);±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時) |
溫度顯示最小值 | 1℃ | 0.1℃ | 0.1℃ |
熔點觀察方式 | 單目顯微鏡 | 單目顯微鏡 | 雙目體視顯微鏡 |
光學放大倍數(shù) | 40× | 40× | 40×-100×連續(xù)變倍 |
*您想獲取產(chǎn)品的資料:
個人信息: