什么是數(shù)據(jù)挖掘型示波器？
捕獲512M海量的波形大數(shù)據(jù)，配合深層次數(shù)據(jù)挖掘能力，基于全觸屏和流暢的操作體驗(yàn)，以一種全新的分析方式定位問題，這就是數(shù)據(jù)挖掘型示波器！
數(shù)據(jù)挖掘步：512M大數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
存儲(chǔ)深度等于采樣率乘以采樣時(shí)間，512M大存儲(chǔ)深度，長時(shí)間捕獲波形，依然不會(huì)出現(xiàn)波形失真。
不同存儲(chǔ)深度下的采樣率和時(shí)間檔位對(duì)應(yīng)表
| 波形時(shí)間檔位 | 512M存儲(chǔ)下的采樣率 | 10M存儲(chǔ)下的采樣率 | 2M存儲(chǔ)下的采樣率 |
|---|
| 5ms/div | 4G Sa/s | 200M Sa/s | 40M Sa/s |
| 50ms/div | 500M Sa/s | 20M Sa/s | 4M Sa/s |
| 500ms/div | 50M Sa/s | 2M Sa/s | 400K Sa/s |
數(shù)據(jù)挖掘第二步：1M刷新率異常捕獲
波形刷新率越高，死區(qū)時(shí)間就越短。ZDS4000系列示波器，標(biāo)配1M次波形刷新率，配合模板觸發(fā)，讓您概率的發(fā)現(xiàn)并捕獲異常信號(hào)。
不同刷新率對(duì)應(yīng)的異常捕獲時(shí)間
注：以上條件為4GSa/s采樣率，10ns/div，錯(cuò)誤檢出的概率99.9%。
數(shù)據(jù)挖掘第三步：參數(shù)測(cè)量
不同于傳統(tǒng)示波器只測(cè)一個(gè)周期，或通過抽樣減少數(shù)據(jù)量再測(cè)量的模式，ZDS4000系列示波器通過FPGA全硬件并行處理，基于原始采樣率和512Mpts全存儲(chǔ)深度，對(duì)每一幀波形每一周期進(jìn)行測(cè)量統(tǒng)計(jì)，僅需約1秒即可實(shí)現(xiàn)對(duì)512Mpts數(shù)據(jù)的“真正意義”參數(shù)測(cè)量，測(cè)試項(xiàng)目可達(dá)53種，并且支持24種參數(shù)同時(shí)顯示。這與傳統(tǒng)意義示波器的測(cè)量有著本質(zhì)的區(qū)別，也是示波器測(cè)試手段與測(cè)試方法的突破。
數(shù)據(jù)挖掘第四步：波形搜索與智能標(biāo)注
ZDS4000系列示波器不只提供了512M的波形大數(shù)據(jù)，還配有強(qiáng)大的波形搜索功能和智能標(biāo)注功能。您可以先通過邊沿、脈寬、欠幅、上升/下降時(shí)間、周期/頻率等多種搜索條件來定位512Mpts波形數(shù)據(jù)中的異常點(diǎn)，再對(duì)找出的異常信號(hào)使用標(biāo)注功能，對(duì)異常信號(hào)進(jìn)行標(biāo)注。這里，所有的測(cè)量都是經(jīng)過FPGA全硬件加速，整個(gè)過程1S左右即可完成。再對(duì)找出的異常信號(hào)使用標(biāo)注功能，對(duì)異常信號(hào)進(jìn)行標(biāo)注。
分析插件與特色功能
時(shí)序分析
ZDS4000系列示波器免費(fèi)標(biāo)配時(shí)序分析功能，支持自定義參數(shù)配置對(duì)I2C、I2S、SPI、MIPI-RFFE、CAN、Reset、Switch進(jìn)行分析處理。自動(dòng)分析多個(gè)波形中最差情況是否滿足標(biāo)準(zhǔn)，可直接篩選某個(gè)特定節(jié)點(diǎn)并直接生成附帶截圖的報(bào)告。
環(huán)路測(cè)試
致遠(yuǎn)電子 ZDS4000系列示波器支持環(huán)路測(cè)試分析軟件。相對(duì)于幾十萬的專業(yè)環(huán)路分析儀器，內(nèi)嵌的環(huán)路測(cè)試分析軟件不僅有完善的環(huán)路測(cè)試方法和精準(zhǔn)的測(cè)量精度， 并且對(duì)測(cè)試操作和用戶體驗(yàn)進(jìn)行了創(chuàng)新性地設(shè)計(jì)。
以太網(wǎng)分析
數(shù)據(jù)挖掘型示波器支持百兆以太網(wǎng)分析軟件，它是一款能夠自動(dòng)測(cè)試以太網(wǎng)100Base-TX 標(biāo)準(zhǔn)的信號(hào)特性的插件。它能夠在短時(shí)間內(nèi)完成信號(hào)眼圖，傳輸特性等分析，并與標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議參數(shù)做對(duì)比，給出信號(hào)測(cè)試結(jié)果（Pass/Fail）。
電源分析
開關(guān)電源的質(zhì)量直接影響到產(chǎn)品的技術(shù)性能以及其安全性和可靠性。電源測(cè)試項(xiàng)目多，計(jì)算量大，統(tǒng)計(jì)繁瑣等問題一直困擾著工程師們，為了解決這些問題，致遠(yuǎn)電子在示波器中增加開關(guān)損耗、SOA、電感測(cè)試等電源分析功能。如在電感測(cè)試功能中可直接對(duì)電感、有功功率等項(xiàng)目進(jìn)行計(jì)算，方便工程師快速、準(zhǔn)確地測(cè)試電源產(chǎn)品。
