1.機(jī)臺(tái)功能：

• IC 之?dāng)?短路測(cè)試

• 自動(dòng)I / V 曲線量測(cè)與比對(duì)分析

• IC Power Pin Bias or IC Power Pin不加電壓之漏電流量測(cè) 

• IC 靜態(tài) or standby 時(shí)之 Idd電流量測(cè) 

• 功能預(yù)處理（用于測(cè)量 VOH 和 VOL 等基本參數(shù)）

• Low Resistance measuring by 4 wire kelvin test method

• 可以滿足客戶在 IC零件之Open/Short量產(chǎn)測(cè)試 & DC Fail 上之失效分析需求!

2.測(cè)試通道：(標(biāo)準(zhǔn))64 Test channels , max.可擴(kuò)充至 8192 channels

• 可滿足客戶在high pin count IC 零件上之測(cè)試及分析需求!

3.SMU(Source Measure Unit)： (標(biāo)準(zhǔn)配備)具有3組SMU, max.可擴(kuò)充至5組SMU。

• 可以提供電流源 or 電壓源, 亦即:  送電流 / 量電壓 or 送電壓 / 量電流 。

• 可以量測(cè) IC在Bias狀態(tài)下之Powered Curve Tracer & Powered Leakage Test !

4.SMU 之 I / V Measuring SPEC. 電流/電壓量測(cè)范圍：

5.可外加搭配 Keithley 2400/2600 Source Meter for High Voltage or Low Current量測(cè), 以滿足多元化 IC 產(chǎn)品之量測(cè)分析需求! ( OPTION )

6.Smart-1 System Configuration: Switching Matrix 標(biāo)準(zhǔn)配備為 4 x N Matrix Relay Switch ,最多可擴(kuò)充至 7 x N Matrix Relay.

7.Universal DUT Board design : 方便user 操作使用, 節(jié)省 set-up 時(shí)間 亦可配合客戶需求設(shè)計(jì)制作客制化之 DUT Board。

8.量測(cè)方法&步驟：可選擇Pin to All , All to Pin , Pin to Pin , Pin to Pins, Pins to Pin, Pins to Pins ,Pins to All, All to Pins 之量測(cè)方式 , 以滿足多元化產(chǎn)品之測(cè)試需求!

9.每個(gè)測(cè)試步驟的 force_delay_measure 之設(shè)定時(shí)間：0.3ms , 最慢3000ms 。

10.Open/Short快檢模式：具有All to Pin , Pin to All之快檢測(cè)試模式, 可快速篩出有Open/Short 之Pin腳, 并可分出不同的Power /GND group , 以節(jié)省量測(cè)分析時(shí)間。

11.Open/Short Test具有Autoset(Auto Learning)功能 : 可自動(dòng)分類哪些 IC PIN腳是 NC Pin, PASS Pin, Low Pin, Short Pin, Power Pin, GND Pin.以便建立正確的Test Program。

12. 檢視 Open/Short 之測(cè)試結(jié)果, 可選擇 IC之 Pin Index or Ball No. or Function Name， 方便 user 解讀！

13. 量產(chǎn)測(cè)試模式:機(jī)臺(tái)可搭配自動(dòng)化之Handler做大量之生產(chǎn)測(cè)試 or 敲Keyboard 之空格鍵 進(jìn)行手動(dòng)模式之量產(chǎn)測(cè)試。

• Open/Short 之Production Test Report: 量產(chǎn)測(cè)試報(bào)告格式 ( 可加入 Report Title )

14.I-V Curve量測(cè)方式: 可選擇手動(dòng)(2 Probe) Pin to Pin之量測(cè)方式, 快速找出Fail Pin , or 計(jì)算機(jī)設(shè)定好程序后自動(dòng)量測(cè)每一Pin腳之I/ V Curve,以節(jié)省分析時(shí)間, 非常具有彈性與便利!

15.Auto I / V Curve Tracing Function : can Automatic Scan & Plot each pin I / V curve .

16.I / V Curve 比對(duì)功能: 可以量取一Known-Good-Device 之I / V Curve, 然后與未知之 待測(cè)Sample 做比對(duì), 可快速篩出有問(wèn)題之sample, 非常便利! 而且可將量到的 I / V Curve 儲(chǔ)存下來(lái), 留待下次分析同一款產(chǎn)品時(shí), 將檔案開啟, 并繼續(xù)做迭圖分析比對(duì)。

17.可以在量測(cè)的 I-V curve畫面編輯文字內(nèi)容, 方便客戶判讀 !

18.Auto I-V Curve compare function：可自動(dòng)比對(duì)二顆 IC 所有 Pin 腳之 I-V Curve & 顯示 每一pin之 I-V 量測(cè) data & Fail Pin information。