安柏AT2617電容測(cè)試儀

AT261X系列是電容測(cè)試儀，采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)的微型臺(tái)式儀器。儀器可以選擇200kHz（AT2616）的測(cè)試頻率，并可選擇0.1V，0.3V，0.5V和1.0Vrms的測(cè)試信號(hào)電平。

安柏AT2617電容測(cè)試儀

AT261X系列是電容測(cè)試儀，采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)的微型臺(tái)式儀器。儀器可以選擇200kHz（AT2616）的測(cè)試頻率，并可選擇0.1V，0.3V，0.5V和1.0Vrms的測(cè)試信號(hào)電平。

主副參數(shù)全5位顯示，可以同時(shí)顯示Z、R、A、A%的一種。高達(dá)0.1%的準(zhǔn)確度，使本儀器可滿足自動(dòng)化設(shè)備制造廠家、各元件生產(chǎn)和使用廠家、學(xué)校、研究所和計(jì)量質(zhì)檢部門進(jìn)行精確測(cè)試和批量生產(chǎn)的要求。

儀器擁有專業(yè)分選功能，具有10組存儲(chǔ)文件，可編程3檔合格檔，1檔附屬檔（副參數(shù)不合格），1檔不合格檔和主參數(shù)HI/IN/LO檔，可設(shè)置百分比分選或絕對(duì)值分選，配備USB接口、Handler接口和RS-232C接口改良設(shè)計(jì)的AT261X，加強(qiáng)了整機(jī)抗干擾電路和保護(hù)電路，滿足自動(dòng)化設(shè)備（分選機(jī)、老化機(jī)等）的復(fù)雜使用環(huán)境。

特征

真彩TFT-LCD顯示。

儲(chǔ)存999個(gè)LCD畫面檔案，觸發(fā)延遲

校正功能：全量程程開路和短路掃頻清零

校準(zhǔn)功能

比較器功能（分選功能）

文件功能：儀器內(nèi)部Flash存儲(chǔ)器有10個(gè)文件可供您用來(lái)保存儀器數(shù)據(jù)，

可編程1～256次平均次數(shù)，提供穩(wěn)定性。

自定義分選結(jié)果訊響。

內(nèi)置RS232C/RS485/USB接口和Handler接口，可選GPIB接口。

SCPI和Modbus 通信協(xié)議。

安柏AT2617電容測(cè)試儀規(guī)格

應(yīng)用

基礎(chǔ)元件和材料測(cè)量：電容器、電阻器、變壓器等
元器件入料檢測(cè)
電容器分選檢測(cè)
用于實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量控制，進(jìn)料檢驗(yàn)以及元器件分選