當前位置：儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 光學儀器及設備>電子顯微鏡>掃描探針顯微鏡SPM（原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM）> 原子力顯微鏡工作站AFM5000II／RealTune II
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AFM5000Ⅱ工作站采用全新的圖標用戶界面，標準配備參數(shù)自動設置功能(RealTune® II)，即使是剛剛接觸SPM的初學者或者遇到全新的樣品時，也能快速獲得準確的測量數(shù)據(jù)。
【實例1】纖維狀的碳納米管結構體（壁虎膠帶）
【樣品提供：日東電工股份公司】
以往的方法這些樣品需要對參數(shù)進行精細的調整，操作難度很高，并且柔軟的纖維易變形產(chǎn)生皺痕。
自動設置成最合適的條件，可在復雜的纖維結構不變形的情況下進行精準測量。
【實例2】用于有機薄膜晶體管的多結晶薄膜（并五苯多結晶薄膜）
【樣品提供：神戶大學北村研究室】
以往的方法這種樣品，表面容易損壞，易產(chǎn)生皺痕、臺階的輪廓也不明顯。
自動設置成最合適的條件，穩(wěn)定地測量分子級別上的臺階結構。
能夠將樣品形貌及物理特性疊加顯示，并能構畫出3D畫面，可以通過視覺感受表示樣品的物理特性。
配備凹凸分析、剖面輪廓分析等多樣的分析功能。
輕便的小型化外形，適合各種場地擺放。
220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、約15 kg
| OS | Windows®7 |
|---|---|
| 連接機型 | AFM5100N、AFM5300E |
| RealTuneII | 懸臂振幅、接觸力、掃描速度、自動設置反饋增益 (Auto、Fast、Soft、Rough、Flat、Point) |
| 操作畫面 | 導航功能、多圖顯示功能（測量/分析）、3D疊加功能、掃描范圍/測量記錄顯示功能、數(shù)據(jù)分析批量處理功能、探針評估功能 |
| X,Y,Z掃描電壓 | XY（±200V/18bit） Z（±200V/26bit） |
| 多畫面測量 | 4畫面（2048×2048） 2畫面（4096×4096） |
| 長方形掃描 | 1:1, 2:1, 4:1, 8:1, 16:1, 32:1, 64:1, 128:1, 256:1, 512:1, 1024:1 |
| 分析軟件 | 3D顯示功能、凹凸分析、剖面分析、平均剖面分析 |
| 尺寸、重量 | 220 mm（W）×500 mm（D）×385 mm（H）、約15 kg |
| 電源 | AC 100V～240V±10%、單相 |
介紹掃描探針顯微鏡的應用數(shù)據(jù)。
解說掃描式隧道顯微鏡（STM）和原子力顯微鏡（AFM)等的原理和各種狀態(tài)原理。
描述我們的掃描探針顯微鏡和我們的設備的歷史和發(fā)展。(Global site)
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