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參考價 | 面議 |
- 公司名稱 日立集團(tuán)
- 品牌
- 型號
- 所在地
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2023/2/16 9:05:19
- 訪問次數(shù) 101
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熒光分布成像系統(tǒng)采用全新設(shè)計,可以測定并觀察樣品的光譜數(shù)據(jù)。利用AI光譜圖像處理算法*1,不但可以分別顯示樣品的熒光圖像和反射圖像,還可以獲得不同區(qū)域的光譜圖像*1(熒光光譜、反射光譜)。*1計算系統(tǒng)是國立信息學(xué)研究所的IMARI SATO教授和鄭銀強副教授共同研究的成果。*EEM是日立科學(xué)公司在中國和日本的注冊商標(biāo)
熒光分布成像系統(tǒng)采用全新設(shè)計,可以測定并觀察樣品的光譜數(shù)據(jù)。利用AI光譜圖像處理算法*1,不但可以分別顯示樣品的熒光圖像和反射圖像,還可以獲得不同區(qū)域的光譜圖像*1(熒光光譜、反射光譜)。
新技術(shù)可同時獲得熒光 · 反射圖像和光譜
EEM View Analysis 界面(樣品:LED電路板)
均勻的光源系統(tǒng)
同時獲取樣品的熒光 · 反射圖像和光譜!
新型熒光分布成像系統(tǒng)可安裝到F-7100熒光分光光度計的樣品倉內(nèi)。入射光經(jīng)過積分球的漫反射后均勻照射到樣品,利用F-7100標(biāo)配的熒光檢測器可以獲得樣品熒光光譜,結(jié)合積分球下方的CMOS相機可獲得樣品圖像,并利用的AI光譜圖像處理算法,可以同時得到反射和熒光圖像。
樣品安裝簡單,適用于各種樣品測試!
樣品只需擺放到積分球上,安裝十分簡單!
為了提高可視性,我們測量了具有精細(xì)結(jié)構(gòu)的熒光反射片。
同時獲得光譜數(shù)據(jù)和樣品圖像
對樣品照射360 nm~700 nm范圍內(nèi)的單色光以及白光。此時,可獲得不同光源條件下的圖像,同時通過熒光檢測器可獲得熒光光譜。測定完成后,可以查看樣品的三維熒光光譜(激發(fā)波長、發(fā)射波長、熒光強度)。在專用分析軟件中,可對圖像進(jìn)行放大,從而顯示不同區(qū)域的熒光 · 反射光譜。因此能夠確認(rèn)光學(xué)性能分布不均勻的樣品的反射和熒光光譜。
計算、顯示不同區(qū)域的光譜(熒光 · 反射)
顯示分離圖像(熒光 · 反射)
對拍攝到的圖像進(jìn)行反射光成分圖像與熒光成分圖像分離
利用AI光譜圖像處理算法,將拍攝的圖像分離為反射光成分和熒光成分圖像。結(jié)果,反射光成分圖像顯示為橙色,熒光成分圖像顯示為綠色。二者分別與反射光譜與熒光光譜的單色光一致。由此可知,此樣品是橙色反射光和綠色熒光的混合,所以在白光下呈黃色。此外,通過反射圖像和熒光圖像可看出樣品不同區(qū)域的光學(xué)特性(圖像圖案)差異。放大圖像后可以看到,反射板的微細(xì)結(jié)構(gòu)存在規(guī)律的間隔,其間隔寬度是200 μm。
主要功能
項目 | 內(nèi)容 |
---|---|
EEM View模式 (測定模式) | 三維熒光光譜的測定 |
單色光圖像 | |
白色光圖像 | |
預(yù)覽圖像 | |
數(shù)據(jù)處理 | 顯示縮略圖 |
顯示三維熒光光譜(等高線,漸變圖) | |
顯示激發(fā)/發(fā)射光譜 | |
顯示放大圖像 | |
圖像分區(qū)(1×1、2×2、3×3、4×4、5×5) | |
計算、顯示不同區(qū)域光譜(熒光、反射)*1 | |
顯示分離圖像(熒光、反射)*1 |
規(guī)格
項目 | 內(nèi)容 |
---|---|
照射波長 | 360 nm ~700 nm |
相機 | 彩色(RGB)CMOS傳感器 |
接口 | USB3.0 |
有效像素數(shù) | 1920 × 1200(H×V) |
可拍攝波長范圍 | 380 nm ~700 nm |
配置示例
名稱 | P/N(序列號) |
---|---|
F-7100熒光分光光度計 | 5J1-0042 |
EEM View配件 | 5J0-0570 |
R928F光電倍增管 | 650-1246 |
副標(biāo)準(zhǔn)光源 | 5J0-0136 |
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