雙折射成像系統(tǒng)

特性

?內(nèi)置波長為633 nm的光源

?所測樣品相位延遲**為半波長(316 nm)，方位角范圍為±90°

??20 mm的視場

?完整的成像系統(tǒng)包含軟件和筆記本電腦

?兼容MLS203-1
XY掃描位移臺

?定制工作波長可聯(lián)系技術(shù)支持

Thorlabs的LCC7201雙折射成像系統(tǒng)用于學(xué)術(shù)研究、醫(yī)療診斷、工業(yè)制造和產(chǎn)品質(zhì)量保證，可以測量晶體和液晶設(shè)備等平整的平面樣品的相位延遲和方位角，非常適合檢測由應(yīng)力引起的雙折射特性。由于該系統(tǒng)基于液晶器件，其內(nèi)部沒有相對機(jī)械運動，從而在運行過程中非常穩(wěn)定，毫無振動干擾。

LCC7201工作的波長為633 nm，提供?20 mm的視場。該系統(tǒng)所測相位延遲范圍**為半波長(316 nm)，方位角范圍為±90°。此外，還可以定制波長范圍從405 nm到810 nm的工作波長。欲定制此類工作波長，請聯(lián)系技術(shù)支持。

在觀察樣品方面，LCC7201包含我們公司的MLS203P2樣品支架，同時還包含三個樣品支架插入件，分別可以固定?0.5英寸、 ?1英寸和2英寸 x 2英寸的光學(xué)元件。MLS203P2在X方向上可以實現(xiàn)手動調(diào)節(jié)，適用于比?20 mm視場大的樣品。此外，該系統(tǒng)還兼容Thorlabs的MLS203-1
XY掃描位移臺（提供X軸和Y軸方向的手動調(diào)節(jié)和電動調(diào)節(jié)），升級之后的版本可以掃描更大的樣品。LCC7201的規(guī)格如右表所示。

購買時附帶軟件預(yù)先裝好的Windows®筆記本電腦。想要了解其他有關(guān)這個系統(tǒng)的軟件特性和樣品測量結(jié)果的信息，請查看上面的軟件標(biāo)簽。

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可按需求定制。詳情請聯(lián)系技術(shù)支持。

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默認(rèn)相機(jī)設(shè)置時的性能。

雙折射成像系統(tǒng)