泰勒-霍普森非接觸式輪廓儀CCI MP是一款高精度的非接觸式3D輪廓儀即高級的干涉儀，具有百萬像素，非常適合在研究和制造領域，適合測量玻璃、硅、光刻膠、金屬、聚合物等樣品。上海冉超光電科技有限公司是泰勒-霍普森公司在上蘇州、常州、無錫等江蘇地區(qū)的*代理商。

一、儀器特點：

1.泰勒-霍普森非接觸式輪廓儀CCI MP是一種高級的測量干涉儀（非接觸式3D輪廓儀）。 它采用享有的新型關聯(lián)算法，來查找由我們的精密光學掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位。

2.CCI MP對于很多需要進行高精度3D輪廓分析的應用非常有用。 轉(zhuǎn)臺上可以同步裝配各種各樣的標的物，因而可測量多種類型的表面。 全自動的工作臺和自動測量程序進一步增強了測量的靈活性。

3.泰勒-霍普森非接觸式輪廓儀CCI MP具有功能多、用途廣的優(yōu)點。 反射率為0.3%至*的拋光表面、粗糙表面、曲面、平面或臺階面，都能使用一種算法進行測量，不需要為不同的表面改變模式，也不用擔心會選擇錯誤的 模式。 可測量的材料類型包括： 玻璃、液體墨水、光刻膠、金屬、聚合物和糊劑。

二、儀器技術(shù)參數(shù)：

1.1048 x 1048像素陣列，視場廣，高分辨率

2.經(jīng)過改良的新型X、Y、Z拼接，量程多達100毫米

3.RMS重復精度<0.2埃，階躍高度重復精度<0.1%

4.全量程埃級分辨率

5.多語言版本的Windows 7，64位軟件

三、CCI光學裝置：

無論對分析速度的要求有多高，創(chuàng)新的CCI光學裝置非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。

CCI光學裝置與光學研究人員和科學家的專業(yè)知識保持與時俱進，能滿足光學領域的嚴苛測量要求。 CCI光學裝置將強大的尺寸及粗糙度分析軟件與的工程設計融于一體，是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。 CCI*的薄膜厚度測量功能，進一步完善了為光學工業(yè)而設計的出色計量包裝 。

1.2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率

2.全量程0.1埃的分辨率

3.輕松測量反射率為0.3% - *的各種表面

4.RMS重復精度<0.2埃，階躍高度重復精度<0.1%

5.多語言版本的64位控制和分析軟件