多功能原子力顯微鏡平臺(tái)，滿足納米級(jí)顯微鏡需求
原子力顯微鏡（AFM)有納米級(jí)分辨率成像以及電，磁，熱和機(jī)器性能測(cè)量的能力。
納米管掃描系統(tǒng)可用于高分辨率掃描離子電導(dǎo)顯微鏡（SICM).
倒置光學(xué)顯微鏡（IOM）便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。
通過(guò)驗(yàn)證的NX10性能
通過(guò)倒置光學(xué)顯微鏡樣品平臺(tái)，Park NX12將Park原子力顯微鏡的多功能性和準(zhǔn)確性相結(jié)合。這使得使用者更容易的使用納米管技術(shù)去研究透明，不透明，或軟或硬的樣品。
電化學(xué)測(cè)試的較佳平臺(tái)
電池，燃料電池，傳感器和腐蝕等電化學(xué)研究是個(gè)快速增長(zhǎng)的領(lǐng)域，然而許多原子力顯微鏡不能直接滿足其特殊的需求。Park NX12的人性化設(shè)計(jì)，為快速操作提供便利，從而達(dá)到化學(xué)研究人員要求的功能性和靈活性。這主要包括：
多功能易用電化學(xué)池
惰性氣體和濕度的環(huán)境控制選項(xiàng)
雙恒電位儀的兼容性
研究人員可利用Park NX12平臺(tái)實(shí)現(xiàn)各種電化學(xué)應(yīng)用：
掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM)
掃描電化學(xué)池顯微鏡(SECCM)
電化學(xué)原子力顯微鏡（EC-AFM）和電化學(xué)掃描隧道顯微鏡( EC-STM)
考慮建立多用戶設(shè)備
Park NX12重新構(gòu)建，以適應(yīng)多用戶設(shè)備需求。其他原子力顯微鏡解決方案缺乏必要的多功能性，難以滿足該設(shè)備中用戶的多重需求，很難合理控制設(shè)備成本。然而，Park NX12旨在能夠容納標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境原子力顯微鏡成像，液體掃描探針顯微鏡，光學(xué)和納米光學(xué)成像，使其成為*靈活的原子力顯微鏡之一。
模塊化設(shè)計(jì)
Park NX12是專門針對(duì)專業(yè)電化學(xué)研究人員需求量身定制的原子力顯微鏡平臺(tái)。
它基于化學(xué)和電化學(xué)性質(zhì)，氣體和液體中介質(zhì)的特性，為掃描探針顯微鏡提供了一個(gè)通用的解決方案，可用于廣泛的不透明和透明材料。
Park NX12基于其廣泛的可視光投置到掃描探針的掃描探針顯微鏡技術(shù)的納米管，易用性強(qiáng)。
Park NX12準(zhǔn)確度****，是多用戶設(shè)備和職業(yè)研究人員的理想平臺(tái)。
多功能應(yīng)用
Park NX12功能廣泛，包括液體中的PinPoint ™和納米力學(xué)，倒置光學(xué)顯微鏡定位透明樣品，離子電導(dǎo)顯微鏡超軟樣品成像，以及改善透明樣品光學(xué)性能的可視性。
綜合性的力譜方法
Park NX12提供了一種在液態(tài)和空氣中的納米力學(xué)表征的完整套餐，使其成為廣泛應(yīng)用中的理想選擇.
模塊化
NX12模塊化設(shè)計(jì)，安裝簡(jiǎn)單，兼容性強(qiáng)，可以滿足您的多種實(shí)驗(yàn)需求。
適合早期職業(yè)研究人員的有競(jìng)爭(zhēng)力的價(jià)格和靈活性
早期職業(yè)研究人員通常沒(méi)有足夠的預(yù)算購(gòu)買價(jià)格高昂的原子力顯微鏡。Park NX12不僅是經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的入門之選，同時(shí)還提供了可隨著職業(yè)發(fā)展而不斷壯大的模塊化平臺(tái)。它不同于其他價(jià)格相近的原子力顯微鏡，Park NX12配有*的研究級(jí)精度和功能，可為在空氣和液體中的透明和不透明材料提供其表面形態(tài)納米級(jí)分辨率。這使得新的化學(xué)，材料科學(xué)或生物化學(xué)實(shí)驗(yàn)室的*佳投資回報(bào)成為可能。
Park SmartScan™自動(dòng)模式下的單擊成像
Park NX12配備了我們的SmartScan™操作系統(tǒng)，使其成為市場(chǎng)上*易使用的原子力顯微鏡之一。其界面直觀給力，即使是未經(jīng)培訓(xùn)的用戶也可以無(wú)需監(jiān)控，快速掃描樣品。這使得上等研究人員能夠?qū)⑺麄兊慕?jīng)驗(yàn)專注在解決更大的問(wèn)題和開發(fā)更好的方案。
易使用性
共享實(shí)驗(yàn)室的用戶通常背景各異，經(jīng)驗(yàn)水平各異。NX12為每個(gè)用戶提供簡(jiǎn)單的點(diǎn)擊界面和自動(dòng)化SmartScan™模式。
功能上等，價(jià)格親民
NX12的功能和精度通常僅在較高價(jià)格的方案中可見，包括：
電動(dòng)對(duì)焦平臺(tái)
集成的原子力顯微鏡光學(xué)器件伴隨針尖減少監(jiān)管的需要。
智能掃描使自動(dòng)化的多重高質(zhì)量掃描變得簡(jiǎn)單。
Park的**SmartScan™自動(dòng)化功能允許用戶點(diǎn)擊按鈕進(jìn)行掃描并創(chuàng)建自動(dòng)化腳本。NX12同樣為離子電導(dǎo)顯微鏡提供SmartScan™。
倒置光學(xué)顯微鏡（IOM）
NX12的倒置光學(xué)顯微鏡使用戶能夠輕松使用納米管技術(shù)測(cè)量透明樣品。
PinPoint™化學(xué)品（掃描電化學(xué)顯微鏡）
NX12的PinPoint™模式使用戶通過(guò)高分辨率原子力顯微鏡針尖來(lái)操作掃描電化學(xué)顯微鏡，并且具有的**度。
雙恒電器兼容性
允許掃描隧道顯微鏡，原子力顯微鏡和離子電導(dǎo)顯微鏡之間的簡(jiǎn)單轉(zhuǎn)換。
多功能濕度和溫度控制選項(xiàng)
Park NX12能在測(cè)量之前和測(cè)量過(guò)程中控制濕度和溫度。
燈光可輕易投射到驅(qū)動(dòng)聚焦平臺(tái)
該系統(tǒng)在測(cè)量期間可以從各個(gè)角度，頂部，側(cè)面以及底部光纖接入探針。這種可以大范圍投置燈光的方式與設(shè)備模塊設(shè)計(jì)相結(jié)合，還可添加光學(xué)或納米學(xué)附件。
綜合力譜方案
Park NX12為液體和空氣中的納米機(jī)械表征提供完整封裝，使其成為廣泛應(yīng)用的理想選擇。
規(guī)格
掃描器
Z掃描器
AFM 掃描頭
柔性引導(dǎo)高推動(dòng)力掃描器
掃描范圍：15μm(可選 30μm)
SICM 掃描頭
多層壓電疊層驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)的柔性引導(dǎo)結(jié)構(gòu)
掃描范圍：15μm(可選 30μm)
XY 掃描器
閉環(huán)控制的柔性引導(dǎo)XY掃描器
掃描范圍：100μm ×100μm
驅(qū)動(dòng)臺(tái)
XY 驅(qū)動(dòng)臺(tái)行程范圍: 50 mm x 50 mm Z 驅(qū)動(dòng)臺(tái)行程范圍: 25 mm
聚焦驅(qū)動(dòng)臺(tái)行程范圍: 15 mm
影像
樣品表面和懸臂的直觀同軸影像
視野: 840 μm × 630 μm (10倍物鏡)
攝像頭:5 M Pixel (默認(rèn)), 1M Pixel (可選)
物鏡
10倍 (NA. 0.23) 超長(zhǎng)工作距離鏡頭
20倍 (NA. 0.35) 高分辨率，長(zhǎng)工作距離鏡頭
電子
信號(hào)處理
ADC: 18 通道 24-bit ADC 的 X, Y 和 Z 掃描器位置傳感器 DAC: 17 通道 20-bit DAC的 X, Y 和 Z 掃描器定位
集成功能
3通道數(shù)字鎖相放大器彈性系數(shù)校準(zhǔn)(熱方法) 數(shù)據(jù)Q 控制
選項(xiàng)/模式
標(biāo)準(zhǔn)成像:真正的非接觸模式, 接觸模式, 側(cè)向摩擦力顯微術(shù)(LFM), 相位成像模式, 輕敲模式, Pinpoint™模式：Pinpoint成像
化學(xué)性能:掃描電化學(xué)池顯微鏡(SECCM), 掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM), 電化學(xué)原子力顯微鏡(EC-AFM)和電化學(xué)掃描隧道顯微鏡(EC-STM), 功能化探針的化學(xué)力顯微鏡
介電／壓電性能:靜電力顯微鏡, 動(dòng)態(tài)接觸式靜電力顯微鏡(EFM-DC), 壓電力顯微鏡 (PFM), 高電壓PFM
力測(cè)量:力－距離(F-D)光譜, 力譜成像
磁性能:磁力顯微鏡(MFM), 可調(diào)外加磁場(chǎng)MFM
熱性能:掃描熱顯微鏡(SThM)
電性能:導(dǎo)電AFM(CP-AFM), Pinpoint™ 導(dǎo)電AFM, I-V譜線, 掃描開爾文探針顯微鏡(SKPM/KPM), 高電壓SKPM, QuickStep™掃描電容顯微鏡(SCM), 掃描電阻顯微鏡(SSRM), 掃描隧道顯微鏡(STM), 掃描隧道光譜(STS), 光電流測(cè)繪(PCM), Current-distance(I/d) Spectroscopy (with SICM)
機(jī)械性能: Pinpoint™納米力學(xué)模式, 力調(diào)制顯微鏡(FMM), 納米壓痕, 納米刻蝕, 高電壓納米刻蝕, 納米操縱
軟件
Park SmartScan™
AFM系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)采集的專用軟件自動(dòng)模式的快速設(shè)置和簡(jiǎn)易成像手動(dòng)模式的上等使用和更精密的掃描控制
XEI
AFM數(shù)據(jù)分析軟件獨(dú)立設(shè)計(jì)-可獨(dú)立安裝和分析數(shù)據(jù)能夠生成采集數(shù)據(jù)的3D繪制
配件
控溫臺(tái)、手套箱 、磁場(chǎng)發(fā)生器、液態(tài)選項(xiàng)、隔音罩
