低噪聲，高動(dòng)態(tài)范圍

系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍是VNA一個(gè)非常重要的指標(biāo)，它是VNA源的最大輸出功率與測(cè)試端口本底噪聲的差值。SNA5000X的動(dòng)態(tài)范圍可達(dá)125 dB@10Hz IFBW，接收機(jī)噪底-125 dBm/Hz，可適用于對(duì)動(dòng)態(tài)范圍要求比較高的測(cè)試場(chǎng)景，比如同時(shí)測(cè)量濾波器的通帶和帶外抑制性能。

從S參數(shù)測(cè)試到平衡-不平衡測(cè)試

SNA5000X系列支持在多個(gè)窗口添加多條跡線進(jìn)行全4端口S參數(shù)測(cè)試，并且具備多種顯示格式，比如 Log Mag，Lin Mag，Phase，Delay，Smith，SWR，Polar等，可以方便快捷地分析被測(cè)物的傳輸系數(shù)，反射系數(shù)，駐波比，阻抗匹配，相位，延時(shí)等參數(shù)。在生產(chǎn)線驗(yàn)證天線，濾波器等的特性時(shí)，還可以保存參考跡線或者添加Limit模板進(jìn)行通過(guò)失敗測(cè)試，有利于提高生產(chǎn)效率。

SNA5000X系列還支持端口阻抗變換功能，比如在測(cè)試有源差分放大器時(shí)，可將輸入輸出端口進(jìn)行阻抗變換，從而進(jìn)行差分（平衡）測(cè)量（比如Scc，Sdd，Scd，Sdc等參數(shù)）。 此功能還可應(yīng)用于差分線纜等其他差分類測(cè)試。

時(shí)域分析功能

SNA5000X系列支持TDR時(shí)域反射計(jì)測(cè)量功能，可在時(shí)域?qū)鬏斁€的特征阻抗，時(shí)延等參數(shù)進(jìn)行分析

眼圖分析

SNA5000X搭載了眼圖功能，眼圖可以反映信號(hào)鏈路上傳輸?shù)臄?shù)字信號(hào)的整體特征，從中觀察出碼間串?dāng)_和噪聲的影響，進(jìn)而估計(jì)系統(tǒng)的優(yōu)劣程度。眼圖分析是高速系統(tǒng)信號(hào)完整性分析的核心，為需要對(duì)高速信號(hào)進(jìn)行時(shí)域分析的客戶節(jié)省了大量成本和時(shí)間。

消除夾具效應(yīng)

在微波射頻領(lǐng)域，如何有效消除有害的測(cè)試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn)。比如在對(duì)SMD器件進(jìn)行測(cè)試時(shí)需要特定的測(cè)試夾具實(shí)現(xiàn)測(cè)試儀器測(cè)試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果中包含了測(cè)試夾具的特性。目前SNA5000X系列提供的去除測(cè)試夾具影響的方法主要有：端口延伸，端口匹配，端口阻抗轉(zhuǎn)換，去嵌入，適配器移除等。