超高溫探針臺1000度探針臺 熱電阻測試 光學測試
1000度高溫顯微鏡熱臺 高溫探針臺 用于觀察高溫樣品結晶過程 和熱電阻測試 光學測試

1000度高溫顯微鏡熱臺 高溫探針臺  用于觀察高溫樣品結晶過程 和熱電阻測試 光學測試

超高溫探針臺1000度探針臺 熱電阻測試 光學測試

電信號接頭 配線轉接 BNC接頭   BNC三同軸接頭  SMA 接頭  香蕉插頭  線長1.2米

電學性能 絕緣電阻 ≥4000MΩ   介質耐壓 ≤200V  電流噪聲 ≤10pA
探針數量 4探針（可擴展5探針）

探針材質 鍍金鎢針 （其他材質可選）

超高溫探針臺1000度探針臺 熱電阻測試 光學測試

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探針尖 10μm
手動探針移動平臺
X軸移動行程 20mm    ±10mm（需手動推動滑臺）
X軸控制精度 ≥500μm
R軸移動行程 120°    ±60°（需手動旋轉探針桿）
R軸控制精度 ≥500μm
Z軸移動行程 2mm    ±1mm
Z軸控制精度 ≤50μm（需手動螺紋調節(jié)探針桿）