鐵電材料電學(xué)表征手動探針臺
一、鐵電材料電學(xué)表征手動探針臺產(chǎn)品簡介:
微型真空探針臺是一款專門用于材料電學(xué)表征和測量的微型桌面型電學(xué)測量臺,主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學(xué)性能表征和測量,還可以在真空、氣氛環(huán)境下對材料進(jìn)行電學(xué)測量評估,是實驗室測量薄膜材料電學(xué)材料bibei工具,廣泛用于高校、科研、航天航空、軍工院所等領(lǐng)域。
二、鐵電材料電學(xué)表征手動探針臺功能特點
1、無人機外觀設(shè)計開發(fā),讓低溫探針臺更加小巧精密;
2、XYZ三維移動平臺的開發(fā),位移最小分辨率10um以下;
3、電聲制冷機制冷加熱一體化平臺應(yīng)用開發(fā);
4、液氮制冷加熱一體化平臺應(yīng)用開發(fā);
5、利用機械彈性設(shè)計,低溫環(huán)境下也有彈性,避免在探針壓薄膜樣品是損壞薄膜;
6、實現(xiàn)-160℃~450℃的制冷和加熱測量環(huán)境,控溫精度達(dá)到±0.5℃;
7、采用1000X放大鏡顯微鏡設(shè)計,有利于實時觀察樣品的測量狀態(tài);
8、廣泛用于復(fù)雜、高速器件的精密電器測量,可靠性高;
9、高低溫平臺、測量夾具、測量軟件等集成于一體,讓操作變得簡單;
10、可以通過USB傳輸數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)格式為Excel格式。
三、鐵電材料電學(xué)表征手動探針臺技術(shù)參數(shù):
應(yīng)用場景:晶圓芯片高低溫測試
測試類型:IV/CV/RF
樣品臺:4英寸
溫度范圍:77K-673K
真空度:10E-4Pa
顯微鏡類型:單筒、體視、金相顯微鏡
探針臂數(shù)量:2-6個
探針臂移動:50mm*50mm*50mm
測試接口:BNC三同軸
測試精度:100fA
可搭配儀器:源表、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、示波器等
華測測試儀器 HCMP手動探針臺
華測測試儀器 HCMP手動探針臺