NIST SRM 3452 高溫塞貝克系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)品主要用于 295 K 至 900 K 溫度范圍內(nèi)的儀器驗(yàn)證和實(shí)驗(yàn)室間數(shù)據(jù)比較，以支持與基于熱電的能量轉(zhuǎn)換應(yīng)用相關(guān)的材料和設(shè)備的研究、開發(fā)和生產(chǎn).塞貝克系數(shù)是比例常數(shù)，用于量化施加的溫差到電勢的熱電能量轉(zhuǎn)換 [1,2]。 SRM 3452 的一個(gè)單元是 p 型摻硼多晶硅鍺（標(biāo)稱成分為 Si80Ge20）的條形工件（標(biāo)稱尺寸為 2.5 mm x 2.5 mm x 14.0 mm）。
儲存：SRM 3452應(yīng)儲存在室溫(21℃至30℃)的低濕度環(huán)境(例如干燥器)中，存放在所提供的容器中。
處理和使用：為防止摻雜沉淀，Seebeck系數(shù)不應(yīng)超過900 K，盡管沒有提供參考數(shù)據(jù)，SRM 3452可能低于295 K。
對于塞貝克系數(shù)測量，建議采用2探針布置[9，10].使用四探針裝置的測量可能具有不對稱的熱反射，導(dǎo)致過高估計(jì)Seebeck系數(shù)。還建議在真空(<10 Pa)下進(jìn)行測量，以減少對流和導(dǎo)電熱誤差?？墒褂脽峤缑娌牧稀Ｍㄟ^比較大氣壓(SA)和真空(Sv)下測得的Seebeck系數(shù)，可以評價(jià)厚界面的質(zhì)量。建議采用SX-S_≤_(0.5μm)，其中um是測量系統(tǒng)中的B型不確定度分量，還可進(jìn)行電流電壓(IV)掃描，以驗(yàn)證問題與NIST SRM 3452 高溫塞貝克系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)品之間電接觸的歐姆行為。
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