具采用的密封充氣紫外光學系統(tǒng)和OPI水平觀測等離子光學接口完成消除水平觀測時尾焰的影響、全譜CCD技術和多視角等離子體定位等新技術，有高靈敏度、高精度以及波長范圍寬（130nm-770nm) 等特性，在ICP-OES 領域開拓了全新的應用，可分析包括ppm級鹵素在內的73個金屬和非金屬元素

主要特點
1.一維色散＋32個CCD檢測器設計，檢測器無需超低溫冷卻，無需氬氣吹掃保護
2.全波長覆蓋，*為130－770nm的波長范圍，*可以分析ppm級鹵素
3.密閉充氬循環(huán)光路系統(tǒng)，檢測190nm以下譜線，無需氣體吹掃
4.3秒實現真正全譜數據采集，分析速度zui快
5.所有氣體流量采用質量流量計計算機控制，矩管位置3維步進馬達計算機控制自動化程度高

技術參數：
光學系統(tǒng)
焦距：0.75米
光譜范圍：130nm – 770nm
光柵：三光柵
- 3600線/毫米 （130nm – 175nm）
- 3600線/毫米 （175nm – 340nm）
- 1800線/毫米 （340nm – 770nm）
光譜級次：全波長一級光譜
32個線性CCD連續(xù) 排列在羅蘭圓上
每個CCD的像素數：3648
分辨率：8.5pm （恒定不變）
光室密閉充氬，無需吹掃（驅氣）和抽真空
光室恒溫: 15℃ （ 0.1 ℃）
- 開機即可使用
- 測量130nm – 190nm波段方便快捷
信號檢測與讀出系統(tǒng)
32個線性陣列CCD
工作溫度：15 ℃ （ 0.1 ℃），無須制冷，
無須吹掃保護性氣流
超高速數據讀?。弘pCPU，平行數據讀出
*的動態(tài)范圍：108
zui短積分時間：0.1ms
可進行瞬時信號的測量：與LC、HPLC等聯(lián)機成為真正可能
決無“溢出”現象
長壽命
等 離 子 體
自激式固態(tài)發(fā)生器和電源
頻率：27.12MHz
功率：750 - 1700W
功率穩(wěn)定性：<0.1%
風冷
全自動控制，功率連續(xù)可調
耦合效率高
等離子體觀測方式
1、等離子體水平放置，軸向觀測
可有效提高儀器的靈敏度10倍，尤其對于激發(fā)電位較低的元素，如：Zn、K、Na
的OPI技術
冷錐冷卻方式：水冷，冷卻效率高
計算機全自動控制冷錐與等離子體
的相對位置
氬氣反吹，在保證遠紫外波段的光
效率前提下，冷錐和光路（包括透
鏡）無污染的可能
2、等離子體垂直放置，徑向觀測
等離子體垂直放置優(yōu)點：
不會燒炬管
減少基體干擾
減少進樣系統(tǒng)沖洗時間
實驗成本降低
分析速度快