MicroTEQ-S1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，集成熒光、拉曼和反射光譜測(cè)量功能。通過把光譜模塊集成到顯微鏡上，實(shí)現(xiàn)顯微熒光、拉曼和其他光譜信息的測(cè)量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、光源、顯微鏡等部分構(gòu)成，自由靈活，幫助用戶快速對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)，微觀光譜信息的測(cè)試和分析；此外系統(tǒng)可以加裝二維電控掃描臺(tái)，通過軟件控制，實(shí)現(xiàn)光譜二維掃面測(cè)量功能。

MicroTEQ-S1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，集成熒光、拉曼和反射光譜測(cè)量功能。通過把光譜模塊集成到顯微鏡上，實(shí)現(xiàn)顯微熒光、拉曼和其他光譜信息的測(cè)量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、光源、顯微鏡等部分構(gòu)成，自由靈活，幫助用戶快速對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)，微觀光譜信息的測(cè)試和分析；此外系統(tǒng)可以加裝二維電控掃描臺(tái)，通過軟件控制，實(shí)現(xiàn)光譜二維掃面測(cè)量功能。

應(yīng)用范圍

• 微流控；

• 植物葉片研究；

• 激光材料評(píng)價(jià)；

• 生物和細(xì)胞測(cè)試；

• 光子晶體測(cè)試；

• 珠寶、古籍檢測(cè);

• 納米材料分析；

• 
  

拉曼模式

拉曼探頭可直接插入顯微光譜測(cè)試模塊中，從而快速實(shí)現(xiàn)拉曼光譜測(cè)量。支持光譜范圍覆蓋400-1100nm，僅需通過更換探頭和激光器，便可實(shí)現(xiàn)488nm、532nm、633nm、785nm激發(fā)波長(zhǎng)的拉曼光譜測(cè)量。

搭配便攜式拉曼光譜儀

顯微光譜測(cè)試模塊也能夠適配ACCUMAN SR 系列科研級(jí)便攜拉曼，即插即用的工作模式讓您不僅可以實(shí)現(xiàn)便攜的拉曼光譜測(cè)量，還可以更方便地在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)實(shí)現(xiàn)顯微拉曼光譜分析。

其他模式

• 熒光測(cè)量：顯微光譜測(cè)量模塊內(nèi)部集成了熒光測(cè)試光路，通過SMA905光纖接口與熒光激光器和熒光光譜儀連接。其中連接激光器的SMA905接頭，可以改裝成為自由空間光作為輸入光源，從而得到更強(qiáng)的激發(fā)功率或更好的光斑質(zhì)量。模塊中帶濾光片插槽，可以放置適配不同激發(fā)波長(zhǎng)的激發(fā)濾光片和發(fā)射濾光片，實(shí)現(xiàn)不同激發(fā)波長(zhǎng)的顯微熒光測(cè)量。

• 顏色和反射測(cè)量：使用光纖把鎢燈光源和顯微光譜測(cè)量模塊連接起來(lái)，共用熒光光路，即可實(shí)現(xiàn)顯微反射光譜測(cè)量和顯微顏色測(cè)量功能。

• 

• 二維Mapping：選配二維電動(dòng)平臺(tái)，使用操作軟件設(shè)置面掃描采樣， 獲取一定范圍內(nèi)的逐點(diǎn)掃描光譜數(shù)據(jù)，可用于表征材料表面微觀結(jié)構(gòu)和光譜成像。同時(shí)測(cè)試結(jié)果還可以通過圖像繪制的方式呈現(xiàn)出來(lái)。

• 
  

• 光譜儀配置	拉曼	拉曼	熒光
  光譜儀	QEPRO@532nm	QEPRO@785nm	QEPRO-FL
  光譜范圍	150-4200cm-1@532nm	150-2000cm-1@785nm	300-1050nm
  分辨率	~10cm-1@5um狹縫	~6cm-1@5um狹縫	1.5nm@5um狹縫
  信噪比	1000:1
  A/D	18位
  探測(cè)器	背照減薄型面陣CCD
  雜散光	0.08%@600nm
  線性度	>99%
  動(dòng)態(tài)范圍	85000:1
  暗噪聲	6RMS@18位
  積分時(shí)間	8ms-60mins
  激光器	LASER-532	LASER-785	LASER-405	LASER-450
  激光波長(zhǎng)	532nm	785nm	405+/-2nm	450+/-2nm
  激光功率	0-300mW可調(diào)	0-500mW可調(diào)	0-200mW可調(diào)	0-200mW可調(diào)
  線寬	<0.2nm	<0.1nm	2nm	2nm
  壽命	10000h	10000h	10000h	10000h
  拉曼探頭	RPB-532	RPB-785
  OD值	OD>6	OD>6
  焦距	7.5mm	7.5mm
  激光輸入端光纖	100um
  光譜收集端光纖	200um
  顯微光譜測(cè)量模塊	Micro-S1
  	光譜范圍：400-1100nm
  顯微鏡	4組平場(chǎng)消色差物鏡：5X,10X,20X,50X
  	5X，數(shù)值孔徑：0.15，工作距離：10.8mm
  	10X，數(shù)值孔徑：0.3，工作距離：10mm
  	20X，數(shù)值孔徑：0.45，工作距離：4mm
  	50X，數(shù)值孔徑：0.55，工作距離：7.9mm
  	100X，數(shù)值孔徑：0.8，工作距離：4mm（非標(biāo)配，可選）
  	1/2”CMOS彩色CCD，2048*1536（300萬(wàn)像素）
  	載物臺(tái)面積175mm×145mm，移動(dòng)范圍：76mm×42mm
  二維電控平移臺(tái)（可選配）	一體式二維電控平移臺(tái)，含控制器；
  	行程：50mmx50mm；
  	重復(fù)定位精度：2um；
  	移動(dòng)分辨率：1um；

• * 產(chǎn)品圖片僅供參考，具體以實(shí)際配置為準(zhǔn)