冷熱沖擊穩(wěn)定性試驗(yàn)室適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。

冷熱沖擊穩(wěn)定性試驗(yàn)室適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。

冷熱沖擊穩(wěn)定性試驗(yàn)室的溫度運(yùn)行控制系統(tǒng)如下：

控制器: LED數(shù)顯（P、I、D＋S、S、R.）微電腦集成控制器。

加熱系統(tǒng):全獨(dú)立系統(tǒng)，鎳鉻合金電加熱式加熱器。

制冷系統(tǒng):全封閉風(fēng)冷單級壓縮制冷方式 /原裝法國“泰康”/全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷方式。

循環(huán)系統(tǒng):耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪。

標(biāo)準(zhǔn)配置:多層加熱觸霜附照明玻璃視窗1套、試品架2個、測試引線孔（25、50mm）1個。

安全保護(hù):漏電、短路、超溫、電機(jī)過熱、壓縮機(jī)超壓、過載、過電流保護(hù)。

溫度轉(zhuǎn)換時間:從低溫區(qū)到高溫區(qū)或 <, /SPAN>從高溫區(qū)到低溫區(qū) ≤15S。

溫度回復(fù)時間:≤5min（與溫度恢復(fù)條件有關(guān)，既冷卻水溫、暴露溫差、恒溫時間、樣品重量有關(guān)。

溫度沖擊方法:垂直兩箱法 / 靜止三箱法。

標(biāo)準(zhǔn)型型號（另：可根據(jù)客戶要求定做）：

LQ-TS--80 內(nèi)箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440。

LQ-TS--150 內(nèi)箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540。

LQ-TS--250 內(nèi)箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640。

LQ-TS-S-480 內(nèi)箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150。