大廠供XRF光譜測(cè)試儀ROHS鹵素檢測(cè)分析儀 大廠供XRF光譜測(cè)試儀ROHS鹵素檢測(cè)分析儀
RoHS檢測(cè)儀器測(cè)試流程:簡(jiǎn)單明了,只需要將待測(cè)樣品拆分較小單元,放在儀器的樣品室自動(dòng)檢測(cè)即可,無(wú)需耗材和前處理,使用維護(hù)成本極低。

ROHS檢測(cè)儀的優(yōu)點(diǎn)之一是分析速度快,通常只需200秒就可以完成元素的分析測(cè)試。比其他分析儀器時(shí)間都短。
優(yōu)點(diǎn)二:熒光分析譜圖跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)。
優(yōu)點(diǎn)三:非破壞分析在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量,結(jié)果重現(xiàn)性好。
優(yōu)點(diǎn)四: X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析.
優(yōu)點(diǎn)五:分析精密度高。
優(yōu)點(diǎn)六:制樣簡(jiǎn)單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
有那么多應(yīng)用優(yōu)勢(shì),同樣X(jué)RF-X射線熒光光譜儀也有它的應(yīng)用缺陷,主要有三個(gè)方面:
1,難于作分析,故定量分析需要標(biāo)樣.
2,對(duì)輕元素硫(S)、磷(P)、硅(Si)、鎂(Mg)、鈉(Na)等元素的靈敏度要低一些.
3,容易受鄰近元素的相互干擾和疊加峰影響。
不過(guò),即便有這些缺點(diǎn),XRF檢測(cè)儀仍然是中小企業(yè)的可以選擇,它不像常規(guī)化學(xué)儀器那樣需要專業(yè)的操作人員和前處理設(shè)施,大大節(jié)省了分析成本,提升了檢測(cè)效率。推薦天瑞儀器的精品XRF檢測(cè)設(shè)備EDX1800型號(hào):




