美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴格生產(chǎn)，好的柔韌性和抗化學腐蝕性，保證檢測結果的可靠性和重現(xiàn)性，被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。簡易卷軸薄膜麥拉材質(zhì)TF-115

一、美國Premier XRF樣品膜：

美國Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領域，以高質(zhì)量和全面的X射線的樣品制備產(chǎn)品線享譽。

美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film）以其低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴格生產(chǎn)，柔韌性和抗化學腐蝕性強，保證檢測結果的可靠性和重現(xiàn)性，被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。簡易卷軸薄膜麥拉材質(zhì)TF-115

X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。簡易卷軸薄膜麥拉材質(zhì)TF-115

二、Premier 樣品膜特點：

有卷狀和片狀，多種規(guī)格、尺寸、數(shù)量可供選擇；

柔韌性強、方便、耐用；

X-ray射線穿透性，適合各類XRF光譜儀；

 抗化學腐蝕性能，不溶于有機溶劑，不污染待測樣品；

（幾乎不含）痕量雜質(zhì)，特別適合于輕質(zhì)元素的*檢測。

三、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。

四、XRF樣品膜目錄：

美國Premier X-ray樣品膜種類：

（1）、Hostaphan膜；

（2）、Kapton膜：聚酰亞胺膜，卡普頓膜；

（3）、Mylar膜：聚酯薄膜，邁拉膜，麥拉膜；

（4）、Polypropylene膜：聚丙烯膜。

目錄編號：

CAT. NO 薄膜材料       厚度       長度       數(shù)量       描述

TF-115     Mylar邁拉膜 1.5μ(0.06mil)      76mm x 91.4m      1卷/盒    Mylar®Rolls連續(xù)卷軸

廣州德駿儀器有限公司(Guangzhou Deligent Instruments Co.,Ltd.) 是一家代理、銷售、技術服務國內(nèi)外分析儀器的，提供配套分析測試技術服務的科技公司。本公司本著“誠信務實、優(yōu)質(zhì)服務”的經(jīng)營理念，為廣大客戶提供實驗室/在線儀器整體解決方案。

我們積極引進國外分析儀器和檢測技術，成為多家歐美儀器制造商在中國的代理商、授權經(jīng)銷商，為廣大用戶提供進口儀器和技術服務。我們還根據(jù)客戶的分析檢測需求而提供分析儀器和實驗室解決方案，包括標準解讀、實驗方案設計、儀器設備采購、售前售后技術服務、耗材供應等，為客戶提供“一站式服務”的實驗室集成配套服務。