公司介紹
美國MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年歷史，是一家專注于超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀的研發(fā)和生產型企業(yè)。 公司研發(fā)的納米粒度及Zeta電位儀系列產品，解決了目前市面上光學方法無法克服的納米粒度檢測難題，如光學方法必須要對樣品進行稀釋 后測試其粒徑和zeta電位以及對于復雜體系無法給出真實的粒度分布等 。目前，美國MAS多功能超聲粒度分析儀儀系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000組成，可以為各行業(yè)提供專業(yè)的粒度和Zeta電位解決方案。 超聲法系列粒度儀測試樣品的原理是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強度的超聲波，由于不同粒徑大小的顆粒對聲波的吸收、散射作用不同， 導致聲波衰減程度不同。從而通過顆粒的聲衰減譜得到顆粒詳細準確的粒度分布。
典型應用：
綜合穩(wěn)定水泥漿，陶瓷，化學機械研磨，煤漿，涂料，化妝品，環(huán)境保護禪選法礦物富集，食品工業(yè)，乳膠，微乳，混合分散體系，納米粉，無水體系，油漆成像材料。
主要特點：
1）能分析多種分散物的混合體；
2）無需依賴Double Layer模式，準確地判定等電點；
3）可適用于高導電(highly conducting)體系；
4）可排除雜質及對樣品污染的干擾；
5）可準確測量無水體系；
6）Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量；
7）樣品的高濃度可達60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量；
8）具有自動電位滴定功能；
優(yōu)于光學方法的技術優(yōu)勢：
1)被測樣品無需稀釋；
2)排除雜質及對樣品污染的干擾；
3)不需定標；
4)能分析多種分散物的混合體；
5)高精度；
6)所檢側粒徑范圍款從5 nm至1000um
多功能超聲粒度分析儀
優(yōu)于electroactics方法的技術優(yōu)勢：
1)無需定標；
2)能測更寬的粒徑范圍；
3)無需依賴Double Layer模式
4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲；
5)零表面電荷條件下也可測量粒徑；
6)可適用于無水體系；
7)可適用于高導電(highly conducting)體系；
優(yōu)于微電泳方法的技術優(yōu)勢：
1)無需稀釋，固合量高達60%；
2)可排除雜質及對樣品污染的干擾；
3)高精度(±0.1mv)；
4)低表面電荷(可低至0. 1mv)；
5)electrosmotic flow不影響測量；
6)對流(convection)不影響測量；
7)可準確測量無水體系；
多功能超聲粒度分析儀
技術參數：
1)所檢測粒徑范圍寬：從5 nm至1000um；
2)可測量參數：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導率、PH、溫度、聲衰減；
3)Zeta電位測量范圍：+/-200 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測量粒徑；
5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分數)；
6)樣品體積：30-230ml；
7)PH范圍：0~14;
8)電導率范圍：0~10 s/m
