DRK 真空衰減法無損微泄露密封性測(cè)試儀，儀器適用標(biāo)準(zhǔn)如下：ASTM F2338使用真空衰變法無損檢驗(yàn)包裝密性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法、SP1207美國藥典標(biāo)準(zhǔn)。

DRK 真空衰減法無損微泄露密封性測(cè)試儀，儀器適用標(biāo)準(zhǔn)如下：ASTM F2338使用真空衰變法無損檢驗(yàn)包裝密性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法、SP1207美國藥典標(biāo)準(zhǔn)。

DRK 真空衰減法無損微泄露密封性測(cè)試儀，*符合 FASTM F2338-09標(biāo)準(zhǔn)和USP40-1207法規(guī)要求,基于雙傳感器技術(shù),雙循環(huán)系統(tǒng)的真空衰減法原理。將微泄漏密封性測(cè)試儀主機(jī)連接到一個(gè)特別設(shè)計(jì)用來容納需要被測(cè)試的包裝物的測(cè)試腔內(nèi)。儀器對(duì)測(cè)試腔進(jìn)行抽真空,包裝物內(nèi)外形成壓力差,在壓力的作用下包裝物內(nèi)氣體通過漏孔擴(kuò)散至測(cè)試腔內(nèi),雙傳感器技術(shù)檢測(cè)時(shí)間和壓力的變化關(guān)系,與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較,判斷試樣是否泄漏。

產(chǎn)品參數(shù)：

真空度：0--100kPa

檢測(cè)靈敏度：1-3um

測(cè)試時(shí)間：30s

設(shè)備操作：自帶HM1

內(nèi)部壓力：常壓

測(cè)試系統(tǒng)：雙傳感器技術(shù)

真空來源：外接真空泵

測(cè)試腔：根據(jù)樣品定做

適用產(chǎn)品：西林瓶、安瓿瓶、預(yù)灌封(及其他合適樣品)

檢測(cè)原理：真空衰減法/無損檢測(cè)

主機(jī)尺寸：550mmx330mm320mm(長(zhǎng)寬高)

重量：20 Kg

環(huán)境溫度：20℃-30℃

儀器配置

配:主機(jī)、真空泵、微型打印機(jī)、觸摸液晶屏,測(cè)試腔

注：因技術(shù)進(jìn)步更改資料，恕不另行通知，產(chǎn)品以后期實(shí)物為準(zhǔn)。