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牛津儀器 電感耦合等離子體刻蝕PlasmaPro 100 Cobra

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牛津儀器 電感耦合等離子體刻蝕PlasmaPro 100 Cobra可安裝多種襯底電極,能夠在很寬的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行工藝,具有200mm單晶圓和多晶圓批處理能力,該工藝模塊可提供具有高度均勻,高產(chǎn)量和高精度的工藝。 電極的適用溫度范圍寬,-150C至400C 兼容200mm以下所有尺寸的晶...

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 牛津儀器 電感耦合等離子體刻蝕PlasmaPro 100 Cobra可安裝多種襯底電極,能夠在很寬的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行工藝,具有200mm單晶圓和多晶圓批處理能力,該工藝模塊可提供具有高度均勻,高產(chǎn)量和高精度的工藝。

  • 電極的適用溫度范圍寬,-150°C至400°C

  • 兼容200mm以下所有尺寸的晶圓

  • 快速更換到不同尺寸的晶圓工藝

  • 購(gòu)置成本低且易于維護(hù)

  • 緊密的設(shè)計(jì),布局靈活

  • 實(shí)時(shí)清洗和終點(diǎn)監(jiān)測(cè)

 
牛津儀器 電感耦合等離子體刻蝕PlasmaPro 100 Cobra特征

  • 牛津儀器的PlasmaPro 100系列具有200mm單晶圓和多晶圓批處理能力。該工藝模式可提供出色的均勻性,高產(chǎn)量和高精度的工藝。
  • 通過(guò)均勻的高導(dǎo)通路徑連接的腔室,將反應(yīng)粒子輸送到襯底 - 在維持低氣壓的同時(shí),允許使用較高的氣體通量
  • 高度可變的下電極 - 充分利用等離子體的三維特性,在適合的高度條件下,襯底厚度可達(dá)10mm
  • 電極的溫度范圍寬(-150°C至+ 400°C),可通過(guò)液氮,液體循環(huán)制冷機(jī)或電阻絲加熱 - 可選的吹排及液體更換單元可自動(dòng)進(jìn)行模式切換
  • 由再循環(huán)制冷機(jī)單元供給的液體控溫的電極 - 出色的襯底溫度控制
  • 射頻功率加載在噴頭上,同時(shí)優(yōu)化氣體輸送 - 提供具有低頻/射頻切換功能的均勻的等離子體工藝,可精確控制薄膜應(yīng)力
  • ICP源尺寸為65mm,180mm,300mm - 確保200mm晶圓的工藝均勻性
  • 高抽氣能力 - 提供了更寬的工藝氣壓窗口
  • 晶圓壓盤(pán)與背氦制冷 - 更適合的晶片溫度控制

 


 牛津儀器 電感耦合等離子體刻蝕PlasmaPro 100 Cobra應(yīng)用

  • III-V族材料的刻蝕工藝
  • 固體激光器InP刻蝕
  • VCSEL GaAs/AlGaAs刻蝕
  • 射頻器件低損傷GaN刻蝕
  • 硅 Bosch和超低溫刻蝕工藝
  • 類(lèi)金剛石(DLC)沉積
  • 二氧化硅和石英刻蝕
  • 用特殊配置的PlasmaPro FA設(shè)備進(jìn)行失效分析的干法刻蝕解剖工藝,可處理封裝好的芯片、 裸晶片以及200mm晶圓
  • 沉積高質(zhì)量的PECVD氮化硅和二氧化硅薄膜,用于光子學(xué)、電介質(zhì)層、鈍化等諸多其它用途
  • 用于高亮度LED生產(chǎn)的硬掩模沉積和刻蝕
ICP刻蝕是一種被廣泛使用的技術(shù),可提供高速率、高選擇比以及低損傷的刻蝕。等離子體能夠在低氣壓下保持穩(wěn)定,因此能夠更好地控制刻蝕形貌。 Cobra® ICP刻蝕源在低氣壓下仍可產(chǎn)生高密度的反應(yīng)粒子。襯底上的直流偏壓由一個(gè)射頻發(fā)生器獨(dú)立控制, 因此可根據(jù)工藝要求控制離子能量。

電感耦合等離子體刻蝕要點(diǎn)

  • 高刻蝕速率
  • 出色的均勻性
  • 低氣壓下高密度的反應(yīng)粒子
  • 精準(zhǔn)的襯底直流偏壓控制
  • 精準(zhǔn)的離子能量控制
  • 更寬的電極溫度范圍 -150ºC至+400ºC


電感耦合等離子體刻蝕特點(diǎn)及優(yōu)勢(shì)

  • 高刻蝕速率可由高離子密度(> 1011 /cm3)和高自由基密度來(lái)實(shí)現(xiàn)
  • 能夠利用低離子能量實(shí)現(xiàn)對(duì)選擇比和損傷的控制
  • 獨(dú)立的射頻和電感耦合等離子體發(fā)生器分別提供了對(duì)離子能量和離子密度的獨(dú)立控制, 從而實(shí)現(xiàn)了高度的工藝靈活性
  • 在低氣壓工藝下同時(shí)仍具有高離子密度,這樣可以改善對(duì)外形的控制
  • 化學(xué)和離子誘導(dǎo)刻蝕
  • 也可以在RIE模式下運(yùn)行,以滿(mǎn)足某些慢速刻蝕的需要
  • 可用于ICP-CVD模式的沉積
  • 高導(dǎo)通的泵送端口可提供高氣體流量,以實(shí)現(xiàn)快速的刻蝕速率
  • 靜電屏蔽消除了電容耦合,減少了對(duì)器件的電學(xué)損傷,以及在腔室內(nèi)減少了雜質(zhì)顆粒的形成
  • 標(biāo)準(zhǔn)化的晶圓壓盤(pán)與氦冷卻,提供了出色的溫度控制,同時(shí)可以選擇更寬的溫度范圍


 


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