牛津儀器 納米操縱手OmniProbe 350以其有效性和易于操作和使用而聞名，用戶可以：

• 中和樣品表面富集電荷；
• 測(cè)量納米結(jié)構(gòu)的電學(xué)性能（EBIC，EBAC，電流探測(cè)）；
• 在FIB中進(jìn)行TEM樣品制備，包括平面樣品和背切樣品；
• 在SEM中制被以用于TEM和原子探針觀察；
• 制備用于TEM、EDS及其它分析所需的高質(zhì)量樣品；
• 冷凍提取。

*的線性度

線性度測(cè)量的是探針與要求的運(yùn)動(dòng)方向之間的偏差。在所有方向上可以沿直線移動(dòng)的探針可以：

• 安全的提取，而不會(huì)碰到槽壁
• 制備TEM薄片更快，只需要開挖更小的溝槽

直觀的用戶界面

通過軟件控件探針就像直接在電子圖像中移動(dòng)
 

平滑的連續(xù)運(yùn)動(dòng)

薄片制備工作流程要求探針進(jìn)行物理接觸，平滑運(yùn)動(dòng)確保這一過程不會(huì)有掉落或損壞樣品的風(fēng)險(xiǎn)。

精確移動(dòng)

可存儲(chǔ)位置

• 點(diǎn)擊一下，即可從*縮回位置移動(dòng)到操作位置
• 保存用戶定義的工作位置

穩(wěn)定的探針平臺(tái)

穩(wěn)定是對(duì)抗振動(dòng)和漂移的。將樣品附著到探針是通過氣體沉積過程完成的，該過程可能需要幾分鐘。在此過程中，的任何漂移或振動(dòng)都可能導(dǎo)致樣品內(nèi)部產(chǎn)生應(yīng)力，或樣品在自由切割點(diǎn)處突然移動(dòng)

• 穩(wěn)定的Omniprobe平臺(tái)使閑置時(shí)的振動(dòng)和漂移降低了這些風(fēng)險(xiǎn)

端口安裝式設(shè)計(jì)

在不使用時(shí)*縮回腔室，因此不會(huì)影響您的顯微鏡

• 不限制樣品大小
• 不限制樣品臺(tái)傾斜
• 不干擾其他探測(cè)器或附件

探頭電氣連接

包括用于電壓襯度成像的+/-10V電源

• 低噪音選項(xiàng)可與第三方電子設(shè)備結(jié)合，以執(zhí)行EBIC、EBAC和其他電氣測(cè)試方法。