Keithley吉時(shí)利 圖形化SMU數(shù)字源表2400系列 SMU 儀器提供四象限精密電壓和電流源/負(fù)載，外加直觀觸摸屏用戶界面上的測量。這些儀器可同時(shí)提供 10 fA - 10 A 脈沖電流和/或 100nV - 200V 電壓（實(shí)現(xiàn) 1000W 脈沖和 100W 直流總功率）并對(duì)其進(jìn)行測量，從而使用戶可以 Touch，Test，Invent®（觸摸、測試、創(chuàng)新）。
Keithley吉時(shí)利 圖形化SMU數(shù)字源表2400專用于要求緊密結(jié)合源和測量 的測試應(yīng)用。全部數(shù)字源表型號(hào)都提供精密電壓源和電 流源以及測量功能。每款數(shù)字源表既是高度穩(wěn)定的直流 電源也是真儀器級(jí)的6位半。此電源的特性包括 低噪聲、精密和回讀。此萬用表的功能包括可重復(fù)性高 和低噪聲。最終形成了緊湊、單通道、直流參數(shù)測試儀。 在工作時(shí)，這些儀器能用作電壓源、電流源、電壓表、電 流表和歐姆表。通信、半導(dǎo)體、計(jì)算機(jī)、汽車和醫(yī)療行業(yè) 的組件和模塊制造商會(huì)發(fā)現(xiàn)吉時(shí)利數(shù)字源表是適于特 性分析和生產(chǎn)測試等廣泛應(yīng)用的重要源表。
Keithley吉時(shí)利 圖形化SMU數(shù)字源表2400主要特性
- 集5臺(tái)儀器的功能于一體（IV源、IVR 測量）
- 6種模式：20W~100W直流、1000W脈沖、1100V至1μV、10A至10pA
- 源和阱（4象限）工作
- 0.012%基礎(chǔ)測量精度（6位半分辨率）
- 2線、4線和6線遠(yuǎn)程電壓源和測量感測
- 1700讀數(shù)/秒（4位半分辨率），通過GPIB
- 通過/失效比較器用于快速排序/分選
- 提供高速感測線接觸檢查功能
- 可編程DIO端口用于自動(dòng)化/處理程序/探針控制
- 標(biāo)準(zhǔn)SCPI GPIB、RS232和吉時(shí)利觸發(fā)鏈路接口
- 吉時(shí)利LabTracer 2.0版I-V曲線跟蹤應(yīng)用軟件（下載）
Keithley吉時(shí)利 圖形化SMU數(shù)字源表2400典型應(yīng)用
設(shè)備：
- 分立半導(dǎo)體器件
- 無源器件
- 瞬變抑制器件
- IC、RFIC、MMIC
- 激光二極管、激光二極管模塊、LED、光檢測器
- 電路保護(hù)器件：TVS、MOV、保險(xiǎn)絲等
- 氣袋
- 連接器、開關(guān)、繼電器
測試：
- 漏電
- 低電壓/電阻
- LIV
- IDDQ
- I-V特性分析
- 隔離和印制線電阻
- 溫度系數(shù)
- 正向電壓、反向擊穿、漏電流
- 直流參數(shù)測試
- HIPOT
- 絕緣耐壓測試序列舉例
| 型號(hào) | 觸摸屏 | 通道 | 電流源/量程 | 電壓源/量程 | 測量分辨率（電流/電壓） | 電源 |
| 2401 | 否 | 1 | 1A | 20V | 1pA / 100nV | 20 W |
| 2450 | 是 | 1 | 1A | 200V | 10fA/10nV | 20 W |
| 2400 | 否 | 1 | 1A | 200V | 1pA / 100nV | 20 W |
| 2460 | 是 | 1 | 7A | 100V | 1pA / 100nV | 100 W |
| 2420 | 否 | 1 | 3A | 60V | 10pA / 100nV | 60 W |
| 2461 | 是 | 1 | 10A | 100V | 1pA / 100nV | 1000W |
| 2470 | Yes | 1 | 1A | 1100V | 10fA / 100nV | 20 W |
| 2410 | 否 | 1 | 1A | 1100V | 1pA / 100nV | 20 W |
| 2440 | No | 1 | 5A | 40V | 10pA / 100nV | 50 W |
波形曲線分析解決方案
在 2400 系列圖形化 SMU 上安裝 I-V 記錄器軟件，在功能上替換 Tektronix 576 或 370 等傳統(tǒng)波形記錄器。無需配置掃描或連接到其他軟件，即可快速探尋兩端器件的特征。
制造大功率開關(guān)
5G、汽車和替代能源市場對(duì)更高效高壓半導(dǎo)體的需求促使對(duì) SiC 和 GaN 等新技術(shù)的測試和研究日益復(fù)雜。您的測試設(shè)備需要發(fā)展以跟上步伐。
新推出的 2470 SMU 在擊穿電壓、泄漏電流、隔離測試、耐壓和介電耐壓測試等測量方面新增了多項(xiàng)功能，可讓您更快地了解情況。
使測量登上全新高度
SMU 儀器可捕獲更詳細(xì)的設(shè)備行為，并在擴(kuò)展范圍內(nèi)檢定設(shè)備，因此您能更好地了解設(shè)備，提高其質(zhì)量，改善其性能。
特點(diǎn)
- 6½ 位精確分辨率源和測量
- 1 M 個(gè)樣點(diǎn)/秒數(shù)字化測量速度
- 電流：10nA - 7A 直流，10A 脈沖
- 電壓：200mV - 200V
- 功率：可達(dá) 100W 直流 - 1000W 脈沖
直觀 UI。 智能且快速。
在直觀、多點(diǎn)觸控用戶界面上能測量、查看和發(fā)現(xiàn)更多細(xì)節(jié)，從原始讀數(shù)到直方圖，再到基于時(shí)間和基于電壓/電流的波形，并且能更快速地獲得答案。
特點(diǎn)
- 五英寸觸摸屏，具有精心設(shè)計(jì)的顏色組合和屏幕布局
- 簡單的導(dǎo)航和一級(jí)菜單及設(shè)置
- 可存儲(chǔ) 2750 萬個(gè)數(shù)據(jù)，具有時(shí)間標(biāo)記，全部可在儀器上查看
緊湊集成儀器的優(yōu)點(diǎn)
通過在單臺(tái)裝置中連接源和測量電路，這些儀器能 提供多種優(yōu)于單獨(dú)的源和測量儀器構(gòu)建的系統(tǒng)。例如， 它們極大地縮短了測試站開發(fā)，建立和維護(hù)所需的時(shí) 間，同時(shí)降低了購買系統(tǒng)的整體成本。通過去除與使用 多臺(tái)儀器相關(guān)的復(fù)雜同步和連接問題，它們簡化了測試 過程本身。而且，緊湊的半機(jī)架尺寸節(jié)省了測試架或測試臺(tái)的寶貴“空間”。
集5種儀器功能于一體（IV源、IVR測量）
源測量儀器的精密耦合特點(diǎn)相對(duì)分立儀器具有許多優(yōu)點(diǎn)。例如，它具有更短的測試時(shí) 間，通過減少GPIB的流量并簡化了遠(yuǎn)程編程接口。它還保護(hù)被測設(shè)備在偶爾過載、熱失控 等情況下不被損壞。電流源和電壓源都可設(shè)置回讀使器件測量完整性。如果回讀 達(dá)到可編程容限的極限，那么該源就被鉗位在此極限，從而提供錯(cuò)誤保護(hù)。
I-V特性分析
所有數(shù)字源表均提供4象限工作。工作在第1和第3象*，作為電源向負(fù)載輸出 功率。工作在第2和第4象*，作為阱（負(fù)載）吸收能量。在源或阱工作期間都能測 量電壓、電流和電阻。
自動(dòng)化以提高速度
吉時(shí)利數(shù)字源表提高了生產(chǎn)測試的效率。它 能在提供電壓源或電流源的同時(shí)進(jìn)行測量，無需 更改連接，因此適合于在不間斷生產(chǎn)環(huán)境中可靠 地工作。為了提供生產(chǎn)應(yīng)用所需的吞吐率要求， 數(shù)字源表具有許多內(nèi)建功能因而能運(yùn)行復(fù)雜的 測試序列，無需速度較低的計(jì)算機(jī)控制或GPIB通 信。
標(biāo)準(zhǔn)掃描和定制掃描
掃描方案采用自動(dòng)化鉤子（hook）極大加快 了測試。三種基本掃描波形可設(shè)置為單事件或連 續(xù)工作，因而非常適于I/V、I/R、V/L和V/R特性分 析。
- -線性階梯掃描：從起始電平到終止電平使用相等的線性步長
- -對(duì)數(shù)階梯掃描：按照每十個(gè)單位的步數(shù)按對(duì)數(shù)量比例進(jìn)行掃描
- -定制掃描：通過測量點(diǎn)的數(shù)量和每個(gè)點(diǎn)的輸出電平，支持設(shè)立專用掃描
- -達(dá)1700讀數(shù)/秒（4位半分辨率），至GPIB總線
- -5000個(gè)讀數(shù)可以存儲(chǔ)在非易失緩沖存儲(chǔ)器中
內(nèi)建測試定序儀（源存儲(chǔ)器列表）
源存儲(chǔ)器列表提供了更快捷、更方便的測試，您能設(shè)置和執(zhí)行多達(dá)100種不同的測試并 能實(shí)現(xiàn)無PC干預(yù)的運(yùn)行。
- -存儲(chǔ)多達(dá)100種儀器配置，每種均包含源設(shè)置、測量設(shè)置、通過/失效標(biāo)準(zhǔn)等。
- -通過/失效極限測試速度達(dá)500μs/測試點(diǎn)
- -板上比較器消除了當(dāng)發(fā)送數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)分析時(shí)產(chǎn)生的延遲
- -內(nèi)建、用戶定義的數(shù)學(xué)函數(shù)用于計(jì)算推導(dǎo)參數(shù)
測試 | 通過/失效測試 | 如果測試通過 | 如果測試失敗 |
測試 1 | 檢查VF1在100mA的通過/失效界限 | 轉(zhuǎn)到測試2 | 1. 將器件歸為不合格
2. 當(dāng)處理程序在放置新器件時(shí)，將數(shù)據(jù)發(fā)送至計(jì)算機(jī)
3. 返回測試1 |
測試 2 | 檢查VF2在1A的通過/失效界限 | 轉(zhuǎn)到測試3 |
測試 3 | 檢查在-500V的漏電流并測試通過/失效界限 | 1. 將器件歸為合格
2. 當(dāng)處理程序放置新器件時(shí)，將讀數(shù)發(fā)送至計(jì)算機(jī)
3. 返回測試1 |
數(shù)字I/O接口
數(shù)字I/O接口能將數(shù)字源表連接至許多流行的組件處理程序，包 括Aetrium、Aeco和Robotronics。此接口的其它功能包括：
- 緊湊的系統(tǒng)集成用于分選和排序等應(yīng)用
- 內(nèi)建組件處理程序接口
- 測試開始和測試結(jié)束信號(hào)
- 5V、300mA電源
- 可選擴(kuò)展器附件（2499-DIGIO型）增加16條數(shù)字I/O線
觸發(fā)鏈路接口
全部數(shù)字源表都包含吉時(shí)利專有的觸發(fā)鏈路接口，能與許多吉 時(shí)利許多其它儀器建立高速、無縫的通信。例如，使用觸發(fā)鏈路接口 連接數(shù)字源表和7000系列開關(guān)系統(tǒng)以實(shí)現(xiàn)完整的多點(diǎn)測試方案。在 獨(dú)立于計(jì)算機(jī)和GPIB的高速測試序列過程中，通過觸發(fā)鏈路，7000系 列開關(guān)系統(tǒng)可被數(shù)字源表控制。
可選接觸檢查功能
在自動(dòng)測試序列開始之前，接觸檢查功能可以快捷、容易地驗(yàn) 證是否連接良好。這消除了由于接觸疲勞、破損、玷污、松動(dòng)或連接 中斷、繼電器故障等產(chǎn)生的測量誤差和不真實(shí)的產(chǎn)品缺陷。此功能 的一些性能如下：
- 350μs驗(yàn)證和通知處理時(shí)間
- 數(shù)字源表的輸出在出錯(cuò)之后自動(dòng)關(guān)閉并且直至確認(rèn)接觸良好后再 激活，進(jìn)而保護(hù)被測器件不被損壞并保護(hù)控制器不受潛在的安全 性威脅。
- 3個(gè)通過/失效閾值：2Ω、15Ω和50Ω
- 在工作過程中，沒有能量通過被測器件
- 從前面板使能或遠(yuǎn)程通過GPIB使能
- 3種故障通知方法
6線歐姆電路。因?yàn)榇箅娏鞣雷o(hù)使R2兩端電壓為0V，所以全部測試電流通過R1。
的6線電阻測量方法
數(shù)字源表能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)4線、分裂Kelvin以及6線、帶防護(hù)的電阻測 量并且能配置為恒流或恒壓方法。6線測量方法：
- 除了4線感測和源測試線之外，還使用防護(hù)和防護(hù)感測線。
- 鎖定并行電流路徑，當(dāng)測量電阻排或混合電路隔離被測元件時(shí)
- 允許用戶用2400系列源表簡捷地配置和繪制數(shù)據(jù)，從而能輕易實(shí) 現(xiàn)兩臺(tái)、三臺(tái)和四臺(tái)終端器件的特性分析
