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牛津儀器 電子背散射衍射(EBSD)探測(cè)器C-Nano

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牛津儀器 電子背散射衍射(EBSD)探測(cè)器C-Nano是一種多功能、高效的EBSD探測(cè)器。利用Symmetry探測(cè)器的創(chuàng)新技術(shù),為C-Nano這一入門級(jí)探測(cè)器提供了出色的性能。C-Nano適用于表征各種類型的樣品,它的高像素分辨率使其非常適合于精細(xì)的應(yīng)變分析以及復(fù)雜和具有挑戰(zhàn)性材料...

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牛津儀器 電子背散射衍射(EBSD)探測(cè)器C-Nano是一種多功能、高效的EBSD探測(cè)器。利用Symmetry探測(cè)器的創(chuàng)新技術(shù),為C-Nano這一入門級(jí)探測(cè)器提供了出色的性能。C-Nano適用于表征各種類型的樣品,它的高像素分辨率使其非常適合于精細(xì)的應(yīng)變分析以及復(fù)雜和具有挑戰(zhàn)性材料的常規(guī)分析。

牛津儀器 電子背散射衍射(EBSD)探測(cè)器C-Nano是一款適用于各種材料和應(yīng)用的EBSD探測(cè)器。利用專門定制的CMOS傳感器,C-Nano采集速度可達(dá)400點(diǎn)/秒,并能得到理想的312x256像素分辨率的花樣:這比同類型的基于CCD的探測(cè)器采集速度快3倍,得到至少4倍像素的花樣。C-Nano值得讓您信任的性能,使其即使在更具挑戰(zhàn)性的材料上,也能提供出色數(shù)據(jù)質(zhì)量。

C-Nano的光學(xué)設(shè)計(jì)確保了*的靈敏度和子像素失真級(jí)別,使其成為需要優(yōu)良、高清花樣的精細(xì)的應(yīng)變分析的理想探測(cè)器。C-Nano的靈敏度確保在使用非常低的束流(在3nA以下)時(shí)也能達(dá)到的分析速度,從而能夠?qū)﹄娮邮舾胁牧虾图{米晶材料進(jìn)行詳細(xì)和成功的分析。

C-Nano還得益于整個(gè)牛津儀器CMOS探測(cè)器系列的新設(shè)計(jì)功能,包括可避免潛在、昂貴代價(jià)的碰撞發(fā)生的接近傳感器。C-Nano是一個(gè)您可以一直信賴使用的探測(cè)器。


牛津儀器 電子背散射衍射(EBSD)探測(cè)器C-Nano特點(diǎn)

C-Nano探測(cè)器是高性能CMOS技術(shù)的入門選項(xiàng):

  • 保證在3nA束流條件下,實(shí)現(xiàn)400pps的標(biāo)定速度
  • 速度下采集312x256像素的花樣分辨率——是同等速度下高分辨CCD探測(cè)器的4倍
  • EBSD百萬(wàn)像素全分辨率花樣(1244x1024像素)——高分辨率EBSD應(yīng)變分析的理想選擇
  • 低失真光學(xué)器件, 確保角度精度優(yōu)于0.05°
  • 優(yōu)化的高靈敏度熒光屏, 確保低劑量和低束流能量下的高質(zhì)量的花樣——增大空間分辨率
  • 即使在速度下也能實(shí)現(xiàn)無(wú)縫的EDS集成
  • 波紋管SEM接口,保持SEM真空完整性
  • *的接近傳感器——在可能發(fā)生的碰撞發(fā)生之前自動(dòng)將探測(cè)器移動(dòng)到安全位置
  • 簡(jiǎn)單直觀的探測(cè)器設(shè)置,確保每次都能獲得滿意效果
  • 五個(gè)集成的前置探測(cè)器, 提供全彩色通道襯度圖像和原子序數(shù)襯度圖像

電子背散射衍射(EBSD)是一種基于掃描電子顯微鏡(SEM)),提供樣品顯微結(jié)構(gòu)晶體學(xué)信息的技術(shù)。在EBSD中,電子束與傾斜的晶態(tài)樣品相互作用,形成衍射花樣。衍射花樣可以通過(guò)熒光屏探測(cè)到,它具有所產(chǎn)生處樣品的晶體結(jié)構(gòu)和取向特征。因此,衍射花樣可用來(lái)確定晶體結(jié)構(gòu)及取向、區(qū)分晶體上不同的相、表征晶界、和提供有關(guān)局部結(jié)晶完整性的信息。
 
EBSD已成為SEM中的一個(gè)出色的附件,常用來(lái)提供晶體學(xué)信息。EBSD廣泛地應(yīng)用于許多不同的領(lǐng)域,以幫助材料表征,如下表所示。
 
 AZtec EBSD系統(tǒng)結(jié)合了EBSD( Symmetry )的速度和靈敏度以及 AZtecHKL軟件出色的分析性能,為電子背散射衍射(EBSD)和透射菊池衍射(TKD)分析提供了一種功能強(qiáng)大、用途廣泛的工具。

行業(yè)材料典型的EBSD測(cè)量
金屬研究和加工金屬,合金晶粒尺寸
航天金屬間化合物晶界表征
汽車夾雜物/沉淀物/第二相體織構(gòu)
核能陶瓷局部織構(gòu)
微電子薄膜CSL晶界表征
地球科學(xué)太陽(yáng)能電池再結(jié)晶或形變率
科研領(lǐng)域地質(zhì)亞結(jié)構(gòu)分析
 半導(dǎo)體相鑒定
 超導(dǎo)體相分?jǐn)?shù)和相分布
 相變
 金屬和陶瓷復(fù)合材料斷口分析
 骨頭,牙齒晶粒和相間的取向與取向差關(guān)系

 


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