微波網(wǎng)絡分析儀性能介紹主要技術指標
123 dB 的動態(tài)范圍和<0.006 dB 的跡線噪聲
<26 微秒/點的測量速度，32 個通道，20001 個測量點
支持TRL/LRM 校準，提供晶圓、夾具、波導和天線測量
混頻器變頻損耗、回波損耗、隔離和群延遲
放大器增益壓縮、諧波、IMD 和脈沖射頻

微波網(wǎng)絡分析儀性能介紹

123 dB 的動態(tài)范圍和<0.006 dB 的跡線噪聲
<26 微秒/點的測量速度，32 個通道，20001 個測量點
支持TRL/LRM 校準，提供晶圓、夾具、波導和天線測量
混頻器變頻損耗、回波損耗、隔離和群延遲
放大器增益壓縮、諧波、IMD 和脈沖射頻

描述
可進行通用網(wǎng)絡分析，并可使用可選的軟件和/或硬件定制分析解決方案，以滿足您的應用需求（例如多端口、脈沖射頻等）。

Agilent E8362C特色與規(guī)格：

頻率范圍10 MHz - 20 GHz的
123 dB的動態(tài)范圍和<0.006 dB的跡線噪聲
<26微秒/點的測量速度，32個通道，20,001點支持
TRL / LRM校準，晶圓，夾具，波導，和天線測量
混頻器轉換損耗，回波損耗，隔離和群時延
放大器增益壓縮，諧波，IMD，和脈沖射頻
頻率精度+ / - 1ppm的
頻率分辨率1 Hz 
輸出功率范圍-25分貝至+ 2 DB - 25 dB到-10 dB 
輸出分辨率0.01分貝
型微波元網(wǎng)絡分析儀
主要特性與技術指標：
123 dB 的動態(tài)范圍和<0.006 dB 的跡線噪聲
<26 微秒/點的測量速度，32 個通道，20001 個測量點
支持TRL/LRM 校準，提供晶圓、夾具、波導和天線測量
混頻器變頻損耗、回波損耗、隔離和群延遲
放大器增益壓縮、諧波、IMD 和脈沖射頻
Agilent E8362C描述：
可進行通用網(wǎng)絡分析，并可使用可選的軟件和/或硬件定制分析解決方案，
以滿足您的應用需求（例如多端口、脈沖射頻等）。

微波網(wǎng)絡分析儀性能介紹