耦合器溫升試驗(yàn)裝置符合標(biāo)準(zhǔn)GB17465.1-2009第18條、圖13以及IEC60320-1第18.2條及圖13的要求，用于耦合器在熱條件或酷熱條件下的耐熱性能測(cè)試。該裝置由發(fā)熱片和導(dǎo)熱片、溫控表、計(jì)時(shí)器、耦合器座子等組成。

主要技術(shù)參數(shù)：

1) 供電電源：AC220V 50Hz；

2) 加熱溫度：RT常溫～200℃；

3) 溫度分辨率0.1℃，誤差±1℃；

4) 加熱控制方式：溫控表PID控制；

5) 耦合器中心距：以Φ175的圓均布排列；

6) 耦合器輸入插座：

a) 10A 耐熱及耐酷熱暗裝式器具輸入插座各一個(gè)，外殼為耐熱絕緣材料（測(cè)試10A連接器）；

b) 16A 耐酷熱明裝式器具輸入插座，外殼為金屬（測(cè)試16A連接器）；

7) 計(jì)時(shí)器：1～9999h；

8) 試樣工位：6工位；

9) 試樣溫度探頭：6個(gè)；

10) 試樣溫度探頭類型：T型；

11) 加熱板尺寸：W200mm*D200mm。