一、產(chǎn)品介紹
高溫鐵電測(cè)試系統(tǒng)可以測(cè)量鐵電材料的電滯回線，飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流、疲勞、保持、I-V和開關(guān)特性等性能的測(cè)試，能夠較全面準(zhǔn)確地測(cè)量鐵電薄膜的鐵電性能。目前該系統(tǒng)測(cè)量溫度800°C,可配置薄膜和塊體測(cè)量夾具，可廣泛應(yīng)用于薄膜、厚膜和塊狀陶瓷、鐵電器件及存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。
二、鐵電模塊測(cè)試功能
鐵電模塊標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能：
動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率（0.001Hz~150kHz);
脈沖測(cè)試：*小脈沖寬度2μs,*小上升時(shí)間1μs;
疲勞測(cè)試，*大頻率300kHz;
保持力測(cè)試；
靜態(tài)電滯回線測(cè)試；
印跡測(cè)試；
漏電流測(cè)試：1pA to 1A。
三、高壓放大器模塊參數(shù)
高壓電源：DC~150kHz
輸出電壓：1600Vp-p(±800Vp)(可選）
輸出電流：40mA
輸出波形：正弦波、三角波、梯形波等
四、壓電模塊測(cè)試功能
電容-電壓曲線、損耗曲線；
壓電性能測(cè)試（蝴蝶曲線、d33曲線）；
熱釋電性能測(cè)試；
e31、h31 測(cè)試；
靜態(tài)加載力條件下的測(cè)試；
測(cè)量范圍（D33)： 2至4000pC/N
測(cè)試頻率：20HZ-10M;
測(cè)試精度：0.05％
測(cè)量參數(shù)：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|
R、 X、 G、 B、 Φ、 D、 Q、 Vac、 Iac
五、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1：可測(cè)量壓電陶瓷居里溫度、靜態(tài)壓電常數(shù)；
2：測(cè)量壓電材料介電性能-1KHZ下的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試
3：可測(cè)量壓電材料積分電荷法熱釋電系數(shù)測(cè)
4：可測(cè)量壓電陶瓷的品質(zhì)因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)
5：可選配不同的測(cè)試裝置進(jìn)行不同環(huán)境下的壓電陶瓷參數(shù)測(cè)試
6：本儀器可配合高壓放大器實(shí)現(xiàn)壓電及鐵電材料的綜合測(cè)試；
六、高溫鐵電測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用領(lǐng)域
1.鐵電材料的電滯回線（動(dòng)態(tài)與靜態(tài)）、漏電流等特性。
2.測(cè)量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時(shí)的電流響應(yīng)。
3.超晶格材料在方波脈沖電壓激勵(lì)下的自漏電特性。
