HAG-2000是實(shí)現(xiàn)基準(zhǔn)級(jí)光澤度優(yōu)良和相對(duì)測(cè)量的科學(xué)級(jí)儀器，主要用于光澤度標(biāo)準(zhǔn)板檢定，光澤標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)量值傳遞?？?*測(cè)量20°、45°、60°、75°、85°的光澤度值，以及優(yōu)良鏡面反射率分布曲線(xiàn)。優(yōu)良測(cè)量方式避免了相對(duì)測(cè)量中因標(biāo)準(zhǔn)板和被測(cè)板鏡面反射率空間分布差異所導(dǎo)致的測(cè)量誤差，測(cè)量更加可靠，系統(tǒng)角度精度高、測(cè)量重復(fù)性好，測(cè)量精度*。

主要功能及技術(shù)指標(biāo)：

1. 主要功能：光澤度標(biāo)準(zhǔn)板檢定，光澤標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)量值傳遞；
2. 光澤度測(cè)量不確定度U≤0.7，（k=3），滿(mǎn)足JJG 2069光澤度基準(zhǔn)要求。
3. 光澤度優(yōu)良和相對(duì)測(cè)量可選
4. 采用激光精密對(duì)準(zhǔn)裝置實(shí)現(xiàn)角度**定位，角度精度高達(dá)0.01°。
5. 探測(cè)器接收立體角極小，**接收鏡面反射光，*符合ISO，ASTM，GB，TAPPI， JIS等標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量幾何要求。
6. 光源與探測(cè)器通過(guò)濾色片**匹配CIE C光源和CIE光視效率函數(shù)V（λ）。
7. 掃描角度范圍內(nèi)的鏡面反射率分布曲線(xiàn)，獲得更多材料表面分布特性。
8. 樣品尺寸：3*7cm