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- 公司名稱 無錫杰博儀器科技有限公司
- 品牌
- 型號
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- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2021/1/26 10:57:45
- 訪問次數(shù) 735
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Noble T7型全譜直讀光譜儀可快速的對固體金屬樣品進行分析。無論從痕量元素,還是到高濃度的元素,它都能準(zhǔn)確、可靠的分析,特別是深紫外區(qū)的非金屬元素檢測精度較高。
NobleT7型全譜直讀光譜儀可快速的對固體金屬樣品進行分析。無論從痕量元素,還是到高濃度的元素,它都能準(zhǔn)確、可靠的分析,特別是深紫外區(qū)的非金屬元素檢測精度較高。杰博公司在行業(yè)內(nèi)多年的積累,針對有大量金屬分析需求的冶煉行業(yè)和實驗室,設(shè)計了這款新的、性能*的全譜直讀火花光譜儀,可滿足客戶在冶煉、汽車、航空航天、消費品等眾多行業(yè)的生產(chǎn)需求。
鑄造 冶金 機械加工 消防 航天航空 金屬加工 金屬材料質(zhì)量鑒定 新材料開發(fā)
全譜譜線圖
CMOS全譜分析技術(shù)
豐富的譜線信息,分析靈敏線更多,保證分析的準(zhǔn)確度;
基于全譜測量的數(shù)據(jù),能夠正確區(qū)分背景和譜線,有效提高測量精度;
智能選擇合適的靈敏線,通過多譜線結(jié)合技術(shù),實現(xiàn)低中高含量段的檢測需求;
基于全譜測量數(shù)據(jù)的多峰擬合技術(shù),有效消除譜線干擾,實現(xiàn)精確測量。
CMOS線陣傳感器
實時智能漂移校正技術(shù)
在分析過程中實時進行光譜漂移校正,增強儀器穩(wěn)定性;
減少標(biāo)準(zhǔn)化校正次數(shù),延長校正周期;
自動完成儀器校正,操作更加簡便。
譜線漂移校正
*的CMOS檢測技術(shù)優(yōu)于CCD
CMOS相比CCD具有更高的靈敏度和響應(yīng)速度;
CMOS相比CCD具有更好的線性度;
CMOS相比CCD具有更高的紫外光敏感度,在深紫外區(qū)如碳、磷、硫、硼、砷、氮等短波元素的檢測更準(zhǔn)確。
CMOS全譜接收技術(shù);
人性化一鍵激發(fā),一鍵緊急停止;
一體化光室光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計;
可編程脈沖全數(shù)字光源技術(shù);
可分析Fe、Al、Cu、Zn、Ni、Ti、Mg、Co等多種基體;
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