適應性解決方案

HEL PAT-IR （過程分析技術(shù)）是一種即插即用技術(shù)，是理想化的過程實施監(jiān)測及反饋控制探測器，它能夠提供全面的集成化解決方案，并滿足多種化學及生物反應器及其應用的特殊需求。

模塊集成化  

多通道FT-IR 可與HEL多通道平行反應平臺系統(tǒng)完美兼容。此外，HEL還提供采用同種技術(shù)的流動探測版本，也可擴展實時監(jiān)測及反饋控制功能。

多種環(huán)境

PAT-IR專為過程環(huán)境而設(shè)計，然而緊湊性設(shè)計也是其成為適合于實驗室基礎(chǔ)應用的一款理想儀器。其采用的無損分析方法，數(shù)秒鐘即可得到實驗數(shù)據(jù)，十分契合化學過程在線測量的需求。

光纖探頭

在ATR(全反射衰減法)采樣技術(shù)與光導光纖的強強組合可以大大擴展紅外光譜的適用范圍。光纖探頭可以實現(xiàn)原位測量，這樣有助于充分利用中紅外光譜儀提供的豐富信息并*發(fā)揮這一優(yōu)勢。

多種適用傳感器可選，包括金剛石ATR探頭，可用于原位分析。該設(shè)計結(jié)合了雙反射金剛石ATR 傳感器及MIR-鹵化銀纖維的優(yōu)良性能。

主探頭規(guī)格：直徑6mm, 長度300mm, 哈氏合金材質(zhì)，金剛石視窗，工作溫度-100 to 180°C，壓力300bar

快速連接

PAT-IR 提供專有的快速接頭設(shè)計，確保操作簡單及光纖傳感器更換方便，保證測試數(shù)據(jù)重現(xiàn)性好。利用內(nèi)置自動化多通道系統(tǒng)，1臺主機多可支持6通道的數(shù)據(jù)采集及反饋控制。

設(shè)計特點

PAT-IR基于布魯克光學原理，設(shè)計緊湊，通過中紅外光纖傳感器服務(wù)于質(zhì)量保證、過程控制和過程優(yōu)化的應用需求。標配光纖傳感器與BQC連接，可選配一6端口多路轉(zhuǎn)換器。該系統(tǒng)包括一個窄頻帶MCT探測器，以及可持續(xù)12小時的液氮冷卻系統(tǒng)。

數(shù)據(jù)

性能：

光譜范圍：7500 -  720cm^-1 （標配*分束器和MCT探測器）

測量速度：可達每秒5次，分辨率8cm^-1 

分辨率：優(yōu)于1. 0cm^-1（升級為高感光*繞射變跡技術(shù)）

波數(shù)重復性：優(yōu)于0. 04cm^-1

波數(shù)精確度：優(yōu)于0.1cm^-1

光度精準性：優(yōu)于0.1% T

探測傳感器：

ATR元素：雙反射硅棱鏡或金剛石棱鏡

傳感器長度：290 mm ± 20 mm（可根據(jù)需要定制規(guī)格）

傳感器直徑：6mm

傳感器材質(zhì)：哈氏合金

密封件：特氟龍材質(zhì)或金剛石惰性焊接

光纖設(shè)計：具有堅固的電纜保護管，將鹵化銀光纖放置其中

光譜范圍：根據(jù)檢測器材質(zhì)的不同有所不同

硅棱鏡 3500 - 660 cm^-1 (3 - 16μm )

金剛石棱鏡 3500 - 560 cm^-1 (3 - 18μm)

工作溫度：

硅棱鏡：-100°C ~130°C

金剛石棱鏡：-100°C ~ 180°C 

壓力穩(wěn)定性

硅棱鏡：大至30bar

金剛石棱鏡：大至300bar