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- 公司名稱 光傲科技股份有限公司
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- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2021/1/6 15:46:58
- 訪問次數(shù) 368
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SPECTRAFIRE是一個(gè)遠(yuǎn)紅外反射率測(cè)試附件,可裝配到Thermo-Nicolet的FTIR光譜儀上,使用傅里葉變換的方法進(jìn)行光譜半球反射率測(cè)試, SPECTRAFIRE解決了遠(yuǎn)紅外測(cè)試時(shí)使用積分球造成的能量損耗問題??梢詼y(cè)試毛玻璃、半透明聚合物薄膜等非透明樣品。
SPECTRAFIRE 解決了遠(yuǎn)紅外測(cè)試時(shí)使用積分球造成 的能量損耗問題。 ● SPECTRAFIRE可以測(cè)試毛玻璃、半透明聚合物薄膜 等非透明樣品 ● SPECTRAFIRE可以容易的安裝到客戶現(xiàn)有的Thermo Nicolet FTIR 紅外光譜儀上 | ||||||||||||
SPECTRAFIRE 是一個(gè)遠(yuǎn)紅外反射率測(cè)試附件,可裝配到 Thermo-Nicolet 的FTIR 光譜儀上,使用傅里葉變 換的方法進(jìn) 行光譜半球反射率測(cè)試,其中使用了AZ 公司 的 ellipsoidal Collection半球能量收集技術(shù),避免了傳統(tǒng)的積分球技術(shù)對(duì)能 量的吸收損耗問題。儀器可從1.67um 到40um的范圍內(nèi)掃描測(cè) 試近法向半球反射率。所有的空間都可以被清除以小化由于水和CO2造成的信號(hào)損失。法向發(fā)射率根據(jù)測(cè)試的光譜反射率數(shù)據(jù)和黑體曲線進(jìn)行計(jì)算。 | ||||||||||||
SPECTRAFIRE 有2種測(cè)試模式,測(cè)量模式和相對(duì)測(cè)量 (差分式)模式。在測(cè)量模式中,近法向如射,半球反射率通過與配有校正臂的內(nèi)置探測(cè)器直接測(cè)到。在這種情況下,無需校正。在相對(duì)測(cè)量(差分式)模式下,內(nèi)置校正臂不起作用,而是提供一個(gè)參考樣品進(jìn)行背景扣除,然后測(cè)試樣品。 此外,該系統(tǒng)通過特殊標(biāo)定的參考根據(jù)樣品的光譜,來得到不透明樣品的總半球發(fā)射率。使用Spectrafiar計(jì)算發(fā)射率并不需要知道光源的光譜,也不一定需要限定光源的色溫在300K. SPECTRAFIRE 還可以用于正確的測(cè)量300K以外的發(fā)射率和非灰體的 發(fā)射率。 準(zhǔn)直的紅外光束從Nicolet紅外光譜儀進(jìn)入到SPECTRAFIRE左邊的入口處。通過一個(gè)離軸拋物面鏡將該光束匯聚到樣品上。樣品口在系統(tǒng)的頂部,樣品置于的收集器的頂部。入射光經(jīng)樣品反射并被收集匯聚到探測(cè)器上。探測(cè)器的信號(hào)由FTIR光譜儀進(jìn)行處理。.在收集器里還內(nèi)置一個(gè)光束偏離裝置,用于測(cè)量時(shí)的背景扣除。該偏離裝置的反射率*匹配收集器的反射率 。儀器里面的所有光學(xué)元件都鍍了非保護(hù)性金膜,以獲得在測(cè)試光譜范圍內(nèi)的大反射率。 | ||||||||||||
*Note: terms reflectance, emittance and absorptance and terms reflectivity, emissivity and absorptivity are often used interchangeably. Spectroreflectometer, spectro-reflectometer and spectral reflectometer are also used interchangeably. |
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