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Nano-ind 納米壓痕測(cè)試儀

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 美國(guó)儀器集團(tuán)
品牌
型號(hào) Nano-ind
所在地 北京市
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間 2015/12/17 18:00:00
訪問(wèn)次數(shù) 1300

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促銷詳細(xì)：

2020年01月08日至 2020年02月08日

特價(jià)促銷

模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

主要用于納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測(cè)試，測(cè)試結(jié)果通過(guò)壓入載荷大小與壓入深度的曲線計(jì)算得出，無(wú)需通過(guò)顯微鏡觀察壓痕面積。

詳細(xì)信息在線詢價(jià)

美國(guó)NANOVEA公司是一家*的原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)的，生產(chǎn)的微納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)是目前上用在科學(xué)研究和工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備。

原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)涵蓋了納米壓痕儀、納米劃痕儀、納米摩擦磨損測(cè)試儀和SPM功能可以對(duì)樣品表面微區(qū)進(jìn)行納米壓痕（施加正向垂直載荷力）、劃痕（施加側(cè)向載荷力）、原位成像壓痕或劃痕后的表面形貌。納米測(cè)試系統(tǒng)主要應(yīng)用于硬度、彈性模量、摩擦系數(shù)、磨損率、結(jié)合強(qiáng)度、臨界載荷、斷裂剛度、失效、分層、疲勞、蠕變、粘變力（結(jié)合力）、三維表面輪廓等測(cè)試.

該儀器可廣泛的應(yīng)用于材料、薄膜、航空航天、汽車工業(yè)、半導(dǎo)體、生物醫(yī)學(xué)、MEMS、高分子、薄膜和涂層，以及太陽(yáng)能/燃料電池化工、石油、巖石、微電子、微型傳感器、半導(dǎo)體材料、自動(dòng)控制、航空航天、汽車工業(yè)及機(jī)械工具的材料研究和開發(fā)，還可以應(yīng)用于工業(yè)產(chǎn)品的失效與可靠性的評(píng)價(jià)、質(zhì)量控制及檢驗(yàn)；也可以按所有的ASTM 和多種ISO 的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量。同時(shí)也可以向各類不同領(lǐng)域中的用戶提供檢測(cè)服務(wù)。

技術(shù)參數(shù)：

載荷范圍	400mN （800mN, 1600mN可選）
載荷分辨率	0.03μN
深度范圍	250μm
深度分辨率	0.003nm
熱飄逸	<0.05nm/s
zui大摩擦力	400mN
Sinus模式分析（DMA）	20Hz

產(chǎn)品特點(diǎn)：

符合ISO14577、ASTM E2546
- 光學(xué)顯微鏡自動(dòng)觀察
- *的熱漂移控制技術(shù)
- 可測(cè)量硬度、楊氏模量、壓入深度-載荷的曲線圖、彈塑性、蠕變性能等力學(xué)參數(shù)
- 適時(shí)測(cè)量載荷大小
- 采用獨(dú)立的載荷加載系統(tǒng)與高分辨率的電容深度傳感器
- 快速的壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)的載荷反饋系統(tǒng)
- 雙標(biāo)準(zhǔn)校正：熔融石英與藍(lán)寶石
- 也可以進(jìn)行劃痕測(cè)試

納米壓痕測(cè)試模塊可以與緊湊型工作臺(tái)或者標(biāo)準(zhǔn)型工作臺(tái)配用：