當前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 物性測試儀器及設備>表界面物性測試>納米壓痕儀、納米劃痕儀>PI-85 I-85型納米壓痕儀(SEM——掃描電子顯微鏡)
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- 公司名稱 美國儀器集團
- 品牌
- 型號 PI-85
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2016/1/10 19:00:00
- 訪問次數(shù) 1276
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PI-85納米壓痕儀可以集成在掃描電子顯微鏡(SEM)里的一個深度控制納米力學檢測儀系統(tǒng)。通過這個系統(tǒng)能夠同時進行量化納米力學性能檢測和SEM形貌觀察。
PI-85是可以集成在掃描電子顯微鏡(SEM)里的一個深度控制納米力學檢測儀系統(tǒng)。通過這個系統(tǒng)能夠同時進行量化納米力學性能檢測和SEM形貌觀察。 耦合這兩種技術(shù)可使研究人員非常精確地定位探頭,并且可使研究人員使用SEM圖像記錄測試材料的整個變形過程。
PI-85是可以集成在掃描電子顯微鏡(SEM)里的一個深度控制納米力學檢測儀系統(tǒng)。通過這個系統(tǒng)能夠同時進行量化納米力學性能檢測和SEM形貌觀察。 耦合這兩種技術(shù)可使研究人員非常精確地定位探頭,并且可使研究人員使用SEM圖像記錄測試材料的整個變形過程。達到“可遠觀亦可褻玩”目的。
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