自動(dòng)、快速、功能強(qiáng)大的環(huán)境顆粒物表征分析
RJ Lee Group 簡介：
RJ Lee Group以行業(yè)的身份服務(wù)于環(huán)境科學(xué)、材料表征、法醫(yī)工程、信息管理等領(lǐng)域，并提供創(chuàng)新解決方案，以科學(xué)專長、儀器、技術(shù)、合作精神激發(fā)研究并解決復(fù)雜問題。除了實(shí)驗(yàn)室和咨詢業(yè)務(wù)，RJ Lee Group擁有長達(dá)40年的持續(xù)研發(fā)、使用掃描電鏡經(jīng)驗(yàn)，形成一套準(zhǔn)確、可靠、直觀的InliSEM軟件系統(tǒng)，其經(jīng)驗(yàn)的廣度與深度無人匹敵，InliSEM中凝聚了大量的計(jì)算機(jī)控制掃描電鏡系統(tǒng)的專業(yè)知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)。
系統(tǒng)概要：
RJLee實(shí)驗(yàn)室（RJ Lee Group）研發(fā)的智能掃描電鏡環(huán)境顆粒物分析系統(tǒng)（InliSEM EPAS，Enviromental Particle Analysis System）將智能控制技術(shù)和專業(yè)數(shù)據(jù)分析計(jì)算方法與掃描電鏡-能譜儀（SEM-EDS）相結(jié)合，可以自動(dòng)、準(zhǔn)確、快速地對(duì)環(huán)境樣品中的大批量單顆粒進(jìn)行表征分析，為用戶提供豐富的專業(yè)軟件工具，具備對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行可視化分析、挖掘與管理的強(qiáng)大功能。
InliSEM EPAS系統(tǒng)的*技術(shù)優(yōu)勢在于兼具分析廣度和深度于一體，具備每小時(shí)分析數(shù)萬個(gè)單顆粒的快速分析時(shí)間效率，完整獲取和記錄每個(gè)顆粒物的幾何形狀、能譜以及數(shù)字影像信息，據(jù)此，可以較高的統(tǒng)計(jì)置信度獲得環(huán)境樣品的整體特征，并深入探究每個(gè)單顆粒的細(xì)節(jié)特征。
系統(tǒng)應(yīng)用：
* PM10、PM2.5、PM10-2.5、超細(xì)顆粒物的表征研究；
* 揚(yáng)塵研究；
* 環(huán)境顆粒物中金屬的識(shí)別；
* 環(huán)境顆粒物中飛灰的識(shí)別；
* 碳顆粒物（煤煙、生物、煤）形態(tài)研究；
* 顆粒物長距離傳輸研究；
* 土壤中金屬的生物可利用率評(píng)估；
* 點(diǎn)源和無組織面源排放特征的研究；
* 顆粒物源解析（受體模型）研究；
* UNC被動(dòng)采樣器樣品的分析；
系統(tǒng)特點(diǎn)：
* 為環(huán)境顆粒物分析量身定做的軟件包；
* *的顆粒物分析功能，快速獲取大量單顆粒物的表征分析數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)分析結(jié)果；
* 智能化的掃描電鏡-能譜儀分析操作：
> 一鍵選擇設(shè)置分析參數(shù)：亮度/對(duì)比度、聚焦、閾值等，無需用戶干預(yù)；
> 實(shí)時(shí)監(jiān)測、調(diào)準(zhǔn)儀器，實(shí)現(xiàn)掃描電鏡和能譜儀的全自動(dòng)化分析運(yùn)行；
> 自動(dòng)存儲(chǔ)每個(gè)顆粒物的圖像、光譜、測量數(shù)據(jù)；
> 對(duì)X射線檢測器進(jìn)行自動(dòng)校準(zhǔn)和性能檢測；
> 采用圖像分析技術(shù)進(jìn)行顆粒物快速檢測和精確測量；
> 采用統(tǒng)計(jì)算法進(jìn)行瞬時(shí)元素識(shí)別和定量；
> 顆粒物分析數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)分類、排序；
* 遠(yuǎn)程控制和遠(yuǎn)程分析操作；
* 無縫控制和遠(yuǎn)程再定位特定的顆粒以便進(jìn)一步的詳盡分析；
* 利用InliSEM工作臺(tái)對(duì)顆粒物分析數(shù)據(jù)進(jìn)行匯總處理/可視化“后分析”；
> 進(jìn)行“離線”電子顯微分析；
> 對(duì)已存儲(chǔ)的顆粒物圖像/光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理和顯示圖表；
> 在樣品總覽圖像上，以交互式操作方式顯示顆粒物的全部分析數(shù)據(jù)；
系統(tǒng)組成:
勘察者——在線數(shù)據(jù)/圖像采集與分析模塊。其功能是實(shí)現(xiàn)對(duì)掃描電鏡（SEM）和X射線能譜儀（EDS）的全自動(dòng)控制，使用智能算法快速大面積掃描樣品區(qū)域，并精細(xì)測定每個(gè)顆粒物的邊界。在對(duì)顆粒物幾何尺寸進(jìn)行精確測量的基礎(chǔ)上，“勘察者”收集和存儲(chǔ)每個(gè)顆粒物的高倍率數(shù)字影像，依據(jù)能譜分析數(shù)據(jù)計(jì)算單顆粒的化學(xué)元素組成，并將原始能譜數(shù)據(jù)和處理結(jié)果存儲(chǔ)到數(shù)據(jù)庫中。“勘察者”的智能算法能夠保證的數(shù)據(jù)采集時(shí)間和分辨率，以滿足精確測量和快速分析的要求?！翱辈煺摺庇袃煞N操作模式：“專家模式”和“一鍵模式”，前者允許專業(yè)用戶和微調(diào)數(shù)據(jù)采集的各參數(shù)選項(xiàng)，后者則為用戶提供一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)設(shè)置方案，大限度地簡化了用戶操作。
工作臺(tái)——數(shù)據(jù)匯總處理及可視化“后分析”模塊。在工作臺(tái)上，可以將“勘察者”采集的原始數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為用戶需要的分析結(jié)果，并通過豐富的表格、圖形、影像展示出來，以更好地解釋和理解數(shù)據(jù)。平臺(tái)提供的工具包括：表單化的表格——展示每個(gè)單顆粒的所有信息；總覽圖——將所有的圖像、幾何和能譜數(shù)據(jù)等融合拼接結(jié)合為單一的多層的蒙太奇整體樣品視圖；系列化的圖形工具——生成各種兩相、三相圖及數(shù)據(jù)表；查詢和分類——便于將顆粒物分類，用于研究和制作報(bào)告?！肮ぷ髋_(tái)”可安裝于任何可以訪問數(shù)據(jù)庫的電腦上，用戶可通過網(wǎng)絡(luò)遠(yuǎn)程訪問和處理樣品分析數(shù)據(jù)。“工作臺(tái)”的功能之強(qiáng)大，就如同在筆記本電腦上安裝了一個(gè)掃描電鏡-能譜儀系統(tǒng)。
數(shù)據(jù)庫/圖像存儲(chǔ)——存儲(chǔ)來自“勘察者”所有數(shù)據(jù)的大腦。將強(qiáng)大的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)庫與網(wǎng)絡(luò)存儲(chǔ)相結(jié)合，任何安裝有“工作臺(tái)”的計(jì)算機(jī)都可以在聯(lián)網(wǎng)狀態(tài)下調(diào)用數(shù)據(jù)庫中的全部數(shù)據(jù)和圖像，InliSEM數(shù)據(jù)存儲(chǔ)方法靈活而強(qiáng)大-支持多個(gè)數(shù)據(jù)庫，并且該結(jié)構(gòu)可容納幾乎無*的數(shù)據(jù)，這種方法還有助于高效的數(shù)據(jù)分級(jí)備份。
InliSEM EPAS系統(tǒng)的樣品分析流程：
* 掃描電鏡獲取的灰度影像用于檢出顆粒物；
* 生成每個(gè)粒子的單顆粒影像；
* 對(duì)每個(gè)單顆粒進(jìn)行45次箱形測量，得到90個(gè)直徑數(shù)據(jù)；
* 進(jìn)行能譜（EDS）測量獲得單顆粒的元素組成；
* 完成分析操作后，在“工作臺(tái)”上對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行解析處理；
樣品采集【UNC被動(dòng)采樣器】
InliSEM EPAS系統(tǒng)的樣品采集采用UNC被動(dòng)采樣器進(jìn)行，該采樣器采用北卡羅來納大學(xué)技術(shù)，主要以重力沉降的被動(dòng)采樣方式收集PM2.5、PM10、PM10-2.5 樣品。其*的設(shè)計(jì)非常適合用于電鏡分析。
* 技術(shù)
* 與FRM采樣器具有非常好的一致性
* 廣泛應(yīng)用*
服務(wù)領(lǐng)域：
* 環(huán)境空氣質(zhì)量；
* 環(huán)境健康和安全；
* 顆粒物表征；
* 光學(xué)顯微鏡；
* 掃描電鏡（SEM）；
* 透射電鏡（TEM/STEM）；
* 拉曼光譜；
* FTIR；
* 冶金行業(yè)；
* *的材料學(xué)和納米技術(shù)；
* 建筑材料；
* 生物技術(shù)/醫(yī)藥；
* 刑偵/法醫(yī)；
實(shí)驗(yàn)室實(shí)力：
* 透射電鏡（TEM）/掃描電鏡（SEM）；
* 光學(xué)顯微鏡；
* 傅里葉紅外線光譜分析儀（FTIR）；
* 拉曼光譜儀；
* 氣相色譜（GC）/氣相色譜質(zhì)譜連用（GCMS）；
* 原子吸收光譜；
* 高效液相色譜（HPLC）；
* 電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS）；
* 離子色譜（IC）；
* 熱重分析儀（TGA）；
* OC/EC分析儀；
* X射線衍射儀（XRD）；
* X射線熒光光譜儀（XRF）；
