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- 公司名稱 冠乾科技(上海)有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 國外
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2020/11/4 10:29:20
- 訪問次數(shù) 954
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多普勒激光測振儀Memsmap 510以其測速精度高、測速范圍廣、動態(tài)響應(yīng)快、非接觸測量等優(yōu)點在航空航天、機械、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用和快速發(fā)展。
MEMSMap 510激光多普勒振動測量系統(tǒng)
我們使用的技術(shù)是用擴展的激光束照射物體,并用內(nèi)置照相機成像。當(dāng)物體振動時,反射的激光也“振動”,物體位移相應(yīng)地調(diào)制激光。這可以在復(fù)合材料的表面振動、靜態(tài)變形和內(nèi)部缺陷的全場圖中檢測到。
基于激光的微結(jié)構(gòu)高頻、低振幅振動三維測量系統(tǒng)。
MEMSMap 510還可以測量靜態(tài)位移,它可以測量粗糙和光滑的表面,具有微米的空間分辨率。
通過使用長焦距物鏡,MEMSMap 510可以通過窗口和熱過濾器、鏡子以及液體介質(zhì)進行測量。
•MEMS和NEMS •微結(jié)構(gòu) •傳感器
•振動模式分析•響應(yīng)譜•壓力傳感器•加速度計
•陀螺儀•碰撞傳感器•高溫測量•真空室測量
•熱偏轉(zhuǎn)測量•老化效應(yīng)分析
•汽車工業(yè)•傳感器工業(yè)•醫(yī)療工業(yè)•航空航天工業(yè)•電子工業(yè)•研發(fā)•產(chǎn)品測試
MEMSMap 510使用擴展的激光束照亮目標(biāo)區(qū)域,同時通過顯微物鏡將目標(biāo)成像到CMOS傳感器陣列上。
對于平面外測量,使用內(nèi)部參考光束干擾目標(biāo)光。對于平面內(nèi)測量,兩束激光用于物體照明。
對于振動測量,系統(tǒng)計算機使用信號發(fā)生器驅(qū)動激勵裝置,目標(biāo)物體在一個頻率范圍內(nèi)被激勵。
振動振幅條紋可以實時顯示,同時采用*的記錄算法計算數(shù)值振幅和相位圖。
對于靜態(tài)撓度測量,光電管技術(shù)基于相移來記錄和計算被測物體的靜態(tài)撓度。
激光器類型:Nd:YAG/2
激光波長:532nm
CCD分辨率:1936*1216/CMOS
振幅分辨率(數(shù)字模式):0.1nm
振幅分辨率(實時模式)~1nm
3D頻率范圍:0-240MHz
多普勒激光測振儀Memsmap 510以其測速精度高、測速范圍廣、動態(tài)響應(yīng)快、非接觸測量等優(yōu)點在航空航天、機械、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用和快速發(fā)展。多普勒激光測振儀Memsmap 510主要應(yīng)用多普勒效應(yīng)實現(xiàn)物體的振動測試,利用激光的非接觸測量可實現(xiàn)一些特殊環(huán)境下的測試,例如對微電子元件(MEMS),機床高速旋轉(zhuǎn)軸的徑向跳動及軸向振動以及在高溫腐蝕環(huán)境下的測試,實現(xiàn)了傳統(tǒng)的接觸式傳感器在這些應(yīng)用領(lǐng)域的空白。
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