| 參考價 | 面議 |
簡單介紹XV1100是一款光譜范圍為185-1100nm的光纖光譜儀。檢測器采用濱松面陣背照式CCD，16-bit A/D采樣和75%的量子效率為光譜儀提供高信噪比和大的動態(tài)范圍?？梢詮V泛應用在理化分析、生物樣品、半導體材料檢測，光學檢測和材料檢測等領(lǐng)域。XV1100在0-40度，光譜波長偏移< 0.1nm，具備良好熱穩(wěn)定性，能夠應用于定性、定量檢測場景。
XV1100是一款光譜范圍為185-1100nm的光纖光譜儀。檢測器采用濱松面陣背照式CCD，16-bit A/D采樣和75%的量子效率為光譜儀提供高信噪比和大的動態(tài)范圍?？梢詮V泛應用在理化分析、生物樣品、半導體材料檢測，光學檢測和材料檢測等領(lǐng)域。XV1100在0-40度，光譜波長偏移< 0.1nm，具備良好熱穩(wěn)定性，能夠應用于定性、定量檢測場景。
◆ 檢測范圍廣：185~1100nm；
◆ 高分辨率：分辨率<2.5nm@600μm 光纖；
◆ 良好的熱穩(wěn)定性：光譜波長偏移< 0.1nm@ 0-40℃, 靈敏度偏差<2%；
◆ 高信噪比，動態(tài)范圍大。
規(guī)格參數(shù) | |
| 項目 | 值 |
| 尺寸 | 95×72×42mm |
| 重量 | ~380g |
| 檢測器 | Hamamatsu 10420-1106 |
| 波長 | 185-1150nm |
| 像素 | 2048×64 |
| 分辨率 | <2.5nm |
| 信噪比 | 450：1 |
| 熱穩(wěn)定性 | <0.3% |
| A/D分辨率 | 16bit |
| 暗噪聲 | 50 RMS（100ms） |
| 動態(tài)時間 | 10000:1 |
| 積分時間 | 4ms-65s |
| 接口 | MiniUSB |
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