Horiba X射線(xiàn)熒光分析儀是專(zhuān)門(mén)針對(duì)WEEE(電氣電子產(chǎn)品廢棄物處理法令）和RoHS法令（限制電器電子產(chǎn)品使用有害物質(zhì)法令），快速地測(cè)定電子部件中的有害元素的含量。它能對(duì)電子電器產(chǎn)品中所含有的有害物質(zhì)如鉛、汞、鉻、鎘、溴等元素進(jìn)行快速而準(zhǔn)確的分析。另外，通過(guò)CCD攝像頭可以非常清晰的觀察樣品表面，選取所需要的測(cè)試點(diǎn)，操作非常簡(jiǎn)單。

X射線(xiàn)熒光是一種可對(duì)加工材料和部件進(jìn)行快速、無(wú)損掃描的檢測(cè)技術(shù)。分析時(shí)間只需要幾分鐘，靈敏度可以控制在低于100 ppm (0.01%)。XGT系統(tǒng)的檢測(cè)低限度可以低至2 ppm (0.0002%). 標(biāo)準(zhǔn)的1.2 mm 分析光速可以保證即使是非常小的電子元件和部件也可以獨(dú)立進(jìn)行分析。

基于大量客戶(hù)的要求，HORIBA憑借*的經(jīng)驗(yàn)開(kāi)發(fā)出全新的EDXRF分析裝置MESA-50 。它將為您提供友好的操作界面和優(yōu)異的使用性能。

MESA-50具有三種尺寸的準(zhǔn)直器可用于各種大小的樣品，從細(xì)長(zhǎng)的電線(xiàn)、微小的電子器件到大型的樣品。

結(jié)合SDD檢測(cè)器和HORIBA的DPP處理器，MESA-50將為您帶來(lái)EDXRF的全新體驗(yàn)。MESA-50是HORIBA全新的生態(tài)采購(gòu)支持儀器，不僅適合于歐洲的RoHS，ELV，也適用于其他地區(qū)的各種法規(guī)。