neaSNOM近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡技術(shù)特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)：
? neaSNOM是目前世界上成熟的s-SNOM產(chǎn)品
? 保護(hù)的散射式近場(chǎng)光學(xué)測(cè)量技術(shù)
—*的*10 nm空間分辨率
? 的高階解調(diào)背景壓縮技術(shù)
—在獲得10nm空間分辨率的同時(shí)保持*的信噪比
? 保護(hù)的干涉式近場(chǎng)信號(hào)探測(cè)單元
? 的贗外差干涉式探測(cè)技術(shù)
—能夠獲得對(duì)近場(chǎng)信號(hào)強(qiáng)度和相位的同步成像
? 保護(hù)的反射式光學(xué)系統(tǒng)
—用于寬波長(zhǎng)范圍的光源：可見(jiàn)、紅外以至太赫茲
? 高穩(wěn)定性的AFM系統(tǒng)，
—同時(shí)優(yōu)化了納米尺度下光學(xué)測(cè)量
? 雙光束設(shè)計(jì)
—*的光學(xué)接入角：水平方向180°，垂直方向60°
? 操作和樣品準(zhǔn)備簡(jiǎn)單
—僅需要常規(guī)的AFM樣品準(zhǔn)備過(guò)程
