芯片高低溫實驗箱
主要配置：
進(jìn)口法國”泰康”牌全封閉式壓縮機(jī),進(jìn)口TT-5166觸摸屏控制器,控制系統(tǒng)和冷凍系統(tǒng)主要均采用意大利、丹麥、中國臺灣或日本品牌配置。更多參數(shù)請東莞市愛佩試驗設(shè)備有限公司咨詢，我司還有立式可程式恒溫恒濕試驗箱，大型恒溫恒濕試驗箱、標(biāo)準(zhǔn)恒溫恒濕試驗箱、非標(biāo)恒溫恒濕試驗箱等設(shè)備出售
安全功能：
1.獨立限超高溫報警系統(tǒng)，超過限制溫度即自動中斷運行，并聲光報警提示操作者。保證實驗安全運行不發(fā)生意外。
2.壓縮機(jī)過熱、過流、過載保護(hù)，風(fēng)機(jī)過熱保護(hù)，缺水保護(hù)等。
3.可連接打印機(jī)或485通訊接口，具有USB數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)移接口（U盤），用電腦顯示，并打印溫濕度和時間,方便的數(shù)據(jù)處理（選配)
4.控制器可以隨時導(dǎo)出曲線，為試驗過程數(shù)據(jù)儲存與回放提供有力保證。
滿足試驗標(biāo)準(zhǔn)
GJB 150.3高溫試驗
GJB 150.4低溫試驗
IEC68-2-1 試驗A：寒冷
IEC68-2-2 試驗B：干熱
GB 11158《高溫試驗箱技術(shù)條件》
GB10586-1《濕熱試驗箱技術(shù)條件》
GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法》
GB/T 2423.3《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法》
等……
芯片高低溫實驗箱
滿足試驗標(biāo)準(zhǔn)： GB10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》
GB11158-2008《高溫試驗箱技術(shù)條件》
GB10592-2008《高低溫試驗箱技術(shù)條件》
GB2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法》
GB2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法》
GB2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗Db:交變試驗方法》
GB2424.1-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導(dǎo)則》
GB2423.22-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗N:溫度變化試驗方法》
GB/T5170.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備》
GB2423.3－2008試驗C《恒定濕熱試驗方法》;
GB2423.4－93試驗D《交變濕熱試驗方法》 |
安裝場地
地面平整，通風(fēng)良好
設(shè)備周圍無強烈振動
設(shè)備周圍無強電磁場影響
設(shè)備周圍無易燃、易爆、腐蝕性物質(zhì)和粉塵
設(shè)備周圍留有適當(dāng)?shù)氖褂眉熬S護(hù)空間，如下圖所示：
A：不小于10cm
B：不小于60cm
C：不小于60cm
D：不小于160cm
