X-RAY熒光鍍層測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。它是由大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能全自動檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

X-RAY熒光鍍層測厚儀

   FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。它是由大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能全自動檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

    FISCHERSCOPE X-RAY XDL采用了*基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析。其測量范圍為元素氯（17）到鈾（92）。適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

X-RAY熒光鍍層測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

• 測量超薄杜策，例如：裝飾鉻

• 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

• 全自動測量，如測量印刷線路板

• 分析電鍍?nèi)芤?/span>

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據(jù)不同的預(yù)期用途，有不同的版本。
XDL 210 型的工作臺為固定式工作臺，固定位置的 Z 軸系統(tǒng)。

XDL 220 型的工作臺為固定式工作臺，馬達(dá)驅(qū)動的 Z 軸系統(tǒng)。

XDL 230 型配有可手動操控的 X/Y 工作臺，馬達(dá)驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)。

XDL 240 型則配備了馬達(dá)驅(qū)動的 X/Y 工作臺，當(dāng)保護(hù)門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達(dá)驅(qū)動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。

XDL系列儀器可選配圓形或長方形準(zhǔn)直器，采用比例接收器，測量距離為0-80mm，使用專項保護(hù)的DCM測量距離補償法。

使用高分辨率的CCD彩色攝像頭

儀器重量100kg-120kg

儀器使用時溫度范圍10℃-40℃，空氣相對濕度為≤95%，無結(jié)露

計算機要求：帶擴(kuò)展卡的計算機系統(tǒng)

可按要求，提供額外的XDL型產(chǎn)品更改和XDL儀器技術(shù)咨詢