詳細描述：
品牌：卡爾·蔡司
型號：∑IGMA
制造商：德國卡爾蔡司公司
【品牌故事】
世界*光學(xué)品牌，可見光及電子光學(xué)的----德國蔡司公司始創(chuàng)于1846年。其電子光學(xué)前身為LEO（里奧）,更早叫Cambridge（劍橋），積掃描電鏡領(lǐng)域40多年及透射電鏡領(lǐng)域60年的經(jīng)驗，ZEISS電子束技術(shù)在世界上創(chuàng)造了數(shù)個*：
*臺靜電式透射電鏡（1949）
*臺商業(yè)化掃描電鏡（1965）
*臺數(shù)字化掃描電鏡（1985）
*臺場發(fā)射掃描電鏡（1990）
*臺帶有成像濾波器的透射電鏡（1992）
*臺具有Koehler照明的200kV場發(fā)射透射電鏡（2003）
*臺具有鏡筒內(nèi)校正Omega能量濾波器的場發(fā)射透射電鏡（2003）
CARL ZEISS以其前瞻性**的設(shè)計融合歐洲*制造工藝造就了該品牌在光電子領(lǐng)域無可撼動的*地位。自成立至今，一直延續(xù)不斷創(chuàng)新的傳統(tǒng)，公司擁有電鏡制造zui核心的專有技術(shù)，隨著離子束技術(shù)和基于電子束的分析技術(shù)的加入、是*為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場發(fā)射掃描電鏡、雙束顯微鏡（FIB and SEM）、透射電子顯微鏡等全系列解決方案的電鏡制造企業(yè)。其產(chǎn)品的高性能、高質(zhì)量、高可靠性和穩(wěn)定性已得到*廣大用戶的信賴與認可。作為電鏡標準*的CARL ZEISS將一路*電鏡市場為您開創(chuàng)探求納米科技的嶄新紀元。
【總體描述】
采用*的第三代GEMINI鏡筒的∑IGMA場發(fā)射電子顯微鏡在處理所有材料方面有杰出表現(xiàn)。GEMINI鏡筒因其操作簡單，極低壓成像和超穩(wěn)定探測電流等優(yōu)勢得到廣大用戶的認可，同時可提供高分辨率的能譜分析和波譜分析.
∑IGMA可處理直徑達250mm和高為145mm的試樣，此外，理想的共面設(shè)計使得能譜分析（EDS）和背散射電子分析（EBSD）同時使用。
【技術(shù)參數(shù)】
分辨率：1.3nm@ 20KV 1.5nm@ 15KV 2.8nm@ 1KV
放大倍數(shù)：12–1,000,000x
加速電壓：0.1-30KV
探針電流：4 pA - 20 nA （4pA-40nA可選）
樣品室：330 mm （φ） x 270 mm （h）
樣品臺：5軸優(yōu)中心全自動
X = 125 mm
Y = 125 mm
Z = 50mm
T = 0 - 90°
R = 360°連續(xù)旋轉(zhuǎn)
系統(tǒng)控制：基于Windows XP的SmartSEM操作系統(tǒng),可選鼠標、鍵盤、控制面板控制
【產(chǎn)品應(yīng)用】
掃描電鏡（SEM）廣泛地應(yīng)用于金屬材料（鋼鐵、冶金、有色、機械加工）和非金屬材料（化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維）等檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。
