鍍層測厚儀 xulm240
多用途的鍍層厚度測量儀。無論是薄的還是厚的鍍層（如50 nm Au或100 μm錫）都通過選擇好的高壓濾片組合很好地測量。微聚焦管可以達到在很短的測量距離內(nèi)小到100 μm的測量點大小。高達數(shù)kcps的計數(shù)率可以被比例接收器接收到。

鍍層測厚儀 xulm240系列熒光鍍層測厚儀介紹：

        多用途的鍍層厚度測量儀。無論是薄的還是厚的鍍層（如50 nm Au或100 μm 錫）都通過選擇好的高壓濾片組合很好地測量。微聚焦管可以達到在很短的測量距離內(nèi)小到100 μm的測量點大小。高達數(shù)kcps的計數(shù)率可以被比例接收器接收到。對于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列來說，X射線源和接收器位于測量室的下方，這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺簡化了操作，特別是在日常生產(chǎn)中測量大量部件時特別有用。盡管結(jié)構(gòu)緊湊，但這些儀器都有大容量的測量室，這樣大的物品也可以測量。殼體的開槽設(shè)計（C型槽）可以測量諸如印刷線路板類大而平整的樣品，即使這些樣品可能無法*放入測量室，樣品直接放置在平整的支撐臺上，或者定位精度更高的手動XY工作臺上。

特征:
□ 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。*高工作條件:50KV,50W
□ X射線探測器采用比例接收器
□ 準直器：固定或4個自動切換，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
□ 基本濾片：固定或3個自動切換
□ 測量距離可在0-27.5mm范圍內(nèi)調(diào)整
□ 固定的樣品支撐臺或手動XY工作臺
□ 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。刻度線經(jīng)過校準，顯示實際測量點大小。
□ 設(shè)計獲得許可，防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域：
□ 線路板行業(yè)Au/Ni/Cu/PCB或Sn/Cu/PCB等鍍層的測量
□ 電子行業(yè)接插件和觸點的鍍層測量electronics industry
□ 裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS
□ 批量生產(chǎn)部件（螺絲和螺母）防腐鍍層測量，如Zn/Fe、ZnNi/Fe
□ 珠寶和手表行業(yè)
□ 測定電鍍槽中的金屬含量

應(yīng)用實例:

XULM特別適合測量細小的部件如連接器，觸點或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點為Ø0.25mm的準直器測量，20秒的重復精度可達2.5nm。