FISCHERSCOPE XAN222 x射線熒光測(cè)厚儀
XAN®系列儀器的主要應(yīng)用是金和其他貴金屬合金的涂層厚度測(cè)量和分析，該系列產(chǎn)品以其易用性和*的性價(jià)比而脫穎而出。 過(guò)濾器可以根據(jù)要求進(jìn)行調(diào)整，從而可以為每種材料成分提供理想的測(cè)量?jī)x器。

FISCHERSCOPE X-RAY儀器概述：

XAN®系列儀器的主要應(yīng)用是金和其他貴金屬合金的涂層厚度測(cè)量和分析，該系列產(chǎn)品以其易用性和*的性價(jià)比而脫穎而出。 過(guò)濾器可以根據(jù)要求進(jìn)行調(diào)整，從而可以為每種材料成分提供理想的測(cè)量?jī)x器。所有FISCHERSCOPE X-RAY系統(tǒng)均具有出色的準(zhǔn)確性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性，大大減少了重新校準(zhǔn)的必要性，從而節(jié)省了時(shí)間和精力。FISCHER的基本參數(shù)方法可對(duì)固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng)進(jìn)行分析，而無(wú)需校準(zhǔn)。現(xiàn)代的硅漂移檢測(cè)器可實(shí)現(xiàn)高精度和良好的檢測(cè)靈敏度。

XAN 220和XAN 222設(shè)計(jì)為用戶友好的臺(tái)式儀器.XAN 222：手動(dòng)操作XY工作臺(tái)，可精確定位小零件和較大的測(cè)量室。為了方便快速地進(jìn)行樣品定位，X射線源和半導(dǎo)體檢測(cè)器組件位于儀器的下腔室中。測(cè)量方向從樣品下面開(kāi)始，并由透明窗口支撐。

典型的應(yīng)用領(lǐng)域是：     • 珠寶，貴金屬和牙科合金     • 黃金和白金     • 鉑金和白銀     • 銠     • 合金和涂料     • 多層涂料

應(yīng)用：
鍍層厚度測(cè)量：
    • 厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層
    • 時(shí)尚首飾：對(duì)代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統(tǒng)進(jìn)行分析
    • 抗磨損鍍層，如：對(duì)化學(xué)鎳鍍層的厚度及磷含量進(jìn)行測(cè)量
    • 測(cè)試納米級(jí)基礎(chǔ)金屬化層（凸點(diǎn)下金屬化層，UBM） 
材料分析：
    • 測(cè)定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度
    • 專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)室、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及科研院校中常規(guī)材料分析
    • 依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準(zhǔn)則，檢測(cè)電子元件、包裝以及消費(fèi)品中不合要求的物質(zhì)（例如重金屬）
    • 功能性鍍層的成分，如測(cè)定化學(xué)鎳中的磷含量