菲希爾（Fischer）X射線熒光測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220/222,X射線熒光測量儀，用于快速、無損分析黃金和銀合金： X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測量

菲希爾(Fischer)X射線熒光測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220/222,X射線熒光測量儀，用于快速、無損分析黃金和銀合金： X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測量，菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射線熒光測量儀器，用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯（17）到鈾（92）范圍內(nèi)可同時測定多達24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。

產(chǎn)品特點

        ?  菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設計；
        ?  配備固定的準直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析
        ?  配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，適用于更復雜的多元素分析
        ?  由下至上的測量方向，可以*簡便地實現(xiàn)樣品定位

典型應用領域包括         ?  珠寶、貴金屬和牙科合金         ?  黃白色黃金         ?  鉑和銀         ?  銠         ?  合金和涂層分析         ?  多層涂層分析

所有菲希爾X射線系統(tǒng)的特點是具有出色的精度和長期穩(wěn)定性。重新校準的必要性大大降低，節(jié)省了時間和精力。現(xiàn)代硅漂移探測器實現(xiàn)了高精度和良好的檢測靈敏度。菲希爾的基本參數(shù)法允許在不進行校準的情況下分析固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng)。Xan220是一款用戶友好的臺式儀器。樣品定位快速方便。X射線源和半導體探測器組件位于儀器的下部，因此測量方向從樣品下方開始，樣品由透明窗口支撐。