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HCRD-300 電弱點測試儀器

參考價 65000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 北京華測試驗儀器有限公司
  • 品牌
  • 型號 HCRD-300
  • 所在地 北京市
  • 廠商性質(zhì) $CompanyTypeName
  • 更新時間 2024/1/30 14:16:20
  • 訪問次數(shù) 442

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HCRD-300型電弱點測試儀器采用計算機控制,通過人機對話方式,本產(chǎn)品是根據(jù)IEC 60674-2:2009 電氣用塑料薄膜 第2部分:試驗方法及其第1次修正(2001)和 GB/T13542-92《電氣用塑料薄膜試驗方法》而設計的高壓試驗裝置。主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點測試。

詳細信息 在線詢價


華測生產(chǎn)的電弱點測試儀經(jīng)過嚴酷的實踐驗證,穩(wěn)定可靠,目前廣泛應用于電氣絕緣材料的電弱點性能測試

產(chǎn)品簡介:

儀器采用計算機控制,通過人機對話方式主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點測試。電氣用塑料薄的生產(chǎn)過程中,會出現(xiàn)薄膜穿孔、導電顆粒積聚、劃傷等影響電氣性能的電弱點。根據(jù)國家標準《GB/T 13541-92電氣用塑料薄膜試驗方法》,電氣用塑料薄膜要求進行電弱點測試,在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(電弱點)數(shù)成為衡量薄膜成量的重要指標。設計的薄膜電弱點測試儀,無須將膜卷分切成小卷,根據(jù)薄膜的使用寬度直接進行電弱點測試。由于薄膜在生 過程中極易引起縱向劃傷,該儀器*引用“電 弱線”概念,即在規(guī)定的時間內(nèi)檢測到的試樣漏電 流均超過1mA時,認定為該薄膜試樣在生產(chǎn)過 程中存在縱向劃痕,從而產(chǎn)生“電弱線”,測試儀統(tǒng) 計的電弱點總數(shù)為電弱點數(shù)與電弱線數(shù)之和,這 樣的測試數(shù)據(jù)史能真實地反映薄膜的質(zhì)顯水平, 且有助于分析生產(chǎn)過程中存在的問題,從而有針對地提出解決問題的方案。

主要特點:

1、能根據(jù)薄膜的使用寬度進行電弱點的測試,測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設定,無須將膜分切成小卷,免除了許多外來因素對測試結(jié)果的影響。

2、測試數(shù)據(jù)能真實地反映薄膜的質(zhì)量水平。

3、主要元器件均選用進口品牌(如歐姆龍,美信,ABB等),有效地保證了設備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。

4、測量準確,復現(xiàn)性好。

5、測試過程采用電子技術(shù)全自動控制,遇到電弱點時電壓切斷動作迅速。

6、擊穿電流在0~40mA連續(xù)可調(diào),復現(xiàn)性好。

7、多重保護功能,充分考慮了操作人員及設備的安全性。

8、過壓、過流、接地保護,試驗平臺門開啟保護。



符合標準

GB/T 13542-2009《電氣用塑料薄膜試驗方法》

IEC 60674-2:1988《電氣用塑料薄膜標準要求設計的高壓試驗裝置》

JB 3282固體絕緣材料相對耐表面放電擊穿性能試驗方法

主要配件生產(chǎn)廠家:

變壓器:武高所監(jiān)制

控制系統(tǒng):德國西門子PLC

升壓系統(tǒng):spwm華測

繼電器:施耐德

電流傳感器:華測開發(fā)

電壓傳感器:松野

過壓、過流系統(tǒng): 華測開發(fā)

TVS防護:華測開發(fā)

儀器參數(shù)

試驗電壓

0~5000V (AC、DC)

輸入電壓

220V

電壓精度

±1%

有效測量范圍

0~5kV(ACDC)

保護電流

0~40mA

電流精度

±1%

膜移動速度

3-10m/min 連續(xù)可調(diào)

試樣寬度

60~650mm(可調(diào))

高壓防護

TVS

升壓方式

SPWM

控制系統(tǒng)

嵌入式工控機

控制方式

觸摸屏

功率

1kW

數(shù)據(jù)傳輸

2個USB接口

儀器尺寸

220 mm x 230 mm x 70 mm

供電方式

220V(50HZ)

更多安全防護

TVS瞬間抑制防護技術(shù):

次儀器大都采用的光耦隔離方式,但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對于電弧放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護起不到任何作用。華測獨立開發(fā)的TVS瞬間抑制防護技術(shù),將起到對控制系統(tǒng)的防護。

低通濾波電流監(jiān)測技術(shù):

高壓壓放電過程中將產(chǎn)生高頻信號。而無論是國產(chǎn)與進口電流采集傳感器,大都為工頻電流傳感器。而采集過程中無法將高頻信號處理時,從而造成檢測不準確。無論是采用磁通門或霍爾原理所設計的傳感器存在材料產(chǎn)生弱點后后瞬間輸出電壓或電流信號過大,從而燒壞控制系統(tǒng)的采集部分。華測開發(fā)的低濾波電流采集傳感器將高頻雜波信號進行相應處理。同時華測自主開發(fā)的保護模塊來保證采集精度與保護采集元件.

雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù):

采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應用于電弱點儀器,此儀器不僅具備過壓、過流保護系統(tǒng),它*的雙系統(tǒng)互鎖機制,當任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時,將瞬間切斷高壓。技術(shù),將起到對控制系統(tǒng)的防護。




電弱點測試儀器

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