FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下。XDL-B 的特色是特別的距離修正方法。 DCM方法（距離控制測量）自動地修正在不同的測量距離上光譜強度的差別。對于XDL?-B 帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在復(fù)雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實現(xiàn)簡便測量的可能性。在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較復(fù)雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標(biāo)準(zhǔn)片之下，一樣精準(zhǔn)測量。
典型的應(yīng)用范圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
一、德國菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚測試儀介紹：
1、適用于Windows®2000或Windows® XP的真Win32位程序帶在線幫助功能。
2、頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的產(chǎn)品。
3、能通過“應(yīng)用工具箱”(由一個帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊組成)使應(yīng)用的校準(zhǔn)簡單化。
4、畫中畫測試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準(zhǔn)十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離，見背面）
5、圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中
6、對試件與視準(zhǔn)器之間的距離進行視覺控制的校正（DCM方法）范圍可達80mm(3.2〞)
二、德國菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚測試儀特點：
1、FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows® 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下。
2、XDL®-B 的特色是特別的距離修正方法。DCM方法（距離控制測量）自動地修正在不同的測量距離上光譜強度的差別。對于XDL®-B 帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在復(fù)雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實現(xiàn)簡便測量的可能性。特別針對微波腔體之類樣品的底部鍍層厚度進行測量。
三、德國菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚測試儀技術(shù)參數(shù)：
1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根據(jù)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射線熒光測試方法；
2.原始射線從上至下；
3.X-射線管高壓設(shè)定可調(diào)節(jié)至*佳的應(yīng)用：50kV，40kV或30kV；
4.單個0.3mm直徑(12 mils)的標(biāo)準(zhǔn)視準(zhǔn)器，在附加費用的基礎(chǔ)上可選擇0.05×0.3 mm(2×12 mil)帶槽視準(zhǔn)器；或直徑0.1mm;或直徑0.2mm；或0.4X0.4mm方形。
5.測量箱外部尺寸：（高×寬×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大約為105kg（120lbs）；
6.帶槽箱體的內(nèi)部尺寸：（高×寬×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）帶向上回轉(zhuǎn)箱門；
7.嵌入式固定的測試件支承板，需要時可移去以適用于大件的超出尺寸的測試工件。
8.從X-射線頭部（X-射線管，成比例的反射接收器及視準(zhǔn)器）至測試件平面支承板有三種可選擇的固定距離。需要的設(shè)定距離（見背面）必須在定貨時明確（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定：中間位置）
9.試件查看用彩色攝像機 ，
10.帶有LED狀態(tài)指示燈的測量開始/結(jié)束按鈕與測試箱集成在一體
